-
2
-
-
0033897812
-
-
T. Ohta, K. Nishiuchi, K. Narumi, Y. Kitaoka, H. Ishibashi, N. Yamada, and T. Kozaki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 770 (2000).
-
(2000)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.39
, pp. 770
-
-
Ohta, T.1
Nishiuchi, K.2
Narumi, K.3
Kitaoka, Y.4
Ishibashi, H.5
Yamada, N.6
Kozaki, T.7
-
3
-
-
0038060253
-
-
T. Maeda, M. Terao, and T. Shimano, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 42, 1044 (2003).
-
(2003)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.42
, pp. 1044
-
-
Maeda, T.1
Terao, M.2
Shimano, T.3
-
6
-
-
0141538290
-
-
Y. H. Ha, J. H. Yi, H. Horii, J. H. Park, S. H. Joo, S. O. Park, U.-I. Chung, and J. T. Moon, Symp. VLSI Tech. Dig. 2003, 175.
-
Symp. VLSI Tech. Dig.
, vol.2003
, pp. 175
-
-
Ha, Y.H.1
Yi, J.H.2
Horii, H.3
Park, J.H.4
Joo, S.H.5
Park, S.O.6
Chung, U.-I.7
Moon, J.T.8
-
8
-
-
0032045765
-
-
R. Kojima, S. Okabayashi, T. Kashihara, K. Horai, T. Matsunaga, E. Ohno, N. Yamada, and T. Ohta, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 37, 2098 (1998).
-
(1998)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.37
, pp. 2098
-
-
Kojima, R.1
Okabayashi, S.2
Kashihara, T.3
Horai, K.4
Matsunaga, T.5
Ohno, E.6
Yamada, N.7
Ohta, T.8
-
9
-
-
0032590329
-
-
S. Y. Kim, S. J. Kim, H. Seo, and M. R. Kim, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 38, 1713 (1999).
-
(1999)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.38
, pp. 1713
-
-
Kim, S.Y.1
Kim, S.J.2
Seo, H.3
Kim, M.R.4
-
10
-
-
6344224708
-
-
H. Seo, T. H. Jeong, J. W. Park, C. Yeon, S. J. Kim, and S. Y. Kim, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 645 (2000).
-
(2000)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.39
, pp. 645
-
-
Seo, H.1
Jeong, T.H.2
Park, J.W.3
Yeon, C.4
Kim, S.J.5
Kim, S.Y.6
-
11
-
-
0033714603
-
-
T. H. Jeong, M. R. Kim, H. Seo, J. W. Park, and C. Yeon, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 39, 2775 (2000).
-
(2000)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.39
, pp. 2775
-
-
Jeong, T.H.1
Kim, M.R.2
Seo, H.3
Park, J.W.4
Yeon, C.5
-
13
-
-
6344219893
-
-
T. T. Yeh, T. E. Hsieh, and H. P. D. Shieh, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 43, 5316 (2004).
-
(2004)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.43
, pp. 5316
-
-
Yeh, T.T.1
Hsieh, T.E.2
Shieh, H.P.D.3
-
15
-
-
0032607023
-
-
M. Lubbe, P. R. Bressler, W. Braun, T. U. Kampen, and D. R. T. Zahn, J. Appl. Phys. 86, 209 (1999).
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 209
-
-
Lubbe, M.1
Bressler, P.R.2
Braun, W.3
Kampen, T.U.4
Zahn, D.R.T.5
-
17
-
-
0035894098
-
-
J.-D. Hecht, F. Frost, D. Hirsch, H. Neumann, A. Schindler, A. B. Preobrajenski, and T. Chasse, J. Appl. Phys. 90, 6066 (2001).
-
(2001)
J. Appl. Phys.
, vol.90
, pp. 6066
-
-
Hecht, J.-D.1
Frost, F.2
Hirsch, D.3
Neumann, H.4
Schindler, A.5
Preobrajenski, A.B.6
Chasse, T.7
-
18
-
-
14544280966
-
-
B. Lio, Z. Song, T. Zhang, J. Xia, S. Feng, and B. Chen, Thin Solid Films 478, 49 (2005).
-
(2005)
Thin Solid Films
, vol.478
, pp. 49
-
-
Lio, B.1
Song, Z.2
Zhang, T.3
Xia, J.4
Feng, S.5
Chen, B.6
-
19
-
-
33646864617
-
-
M.-H. Cho, K. B. Chung, C. N. Whang, D.-H. Ko, J. H. Lee, and N. I. Lee, Appl. Phys. Lett. 88, 202902 (2006).
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 202902
-
-
Cho, M.-H.1
Chung, K.B.2
Whang, C.N.3
Ko, D.-H.4
Lee, J.H.5
Lee, N.I.6
|