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Volumn 89, Issue 15, 2006, Pages

Oxygen atoms on Si (100) - (2×1): Imaging with scanning tunneling microscopy

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BRIDGE-BONDED OXYGEN; DEFECT DENSITY;

EID: 33749989337     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2362623     Document Type: Article
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References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.