Nature of point defects on SiO2/Mo(112) thin films and their interaction with Au atoms

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 34, 2006, Pages 17015-17023

  Martinez, Umberto ^a   Giordano, Livia ^a   Pacchioni, Gianfranco ^a  

^a UNIVERSITY OF MILANO BICOCCA   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DISCRETE FOURIER TRANSFORMS; EPITAXIAL GROWTH; METALLIC COMPOUNDS; POINT DEFECTS; SILICA; SURFACE STRUCTURE;

METAL SUBSTRATES; PEROXO GROUP; SILICA FILMS;

THIN FILMS;

EID: 33748789314     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp063681e     Document Type: Article

References (42)

1. Motoyama, Y.; Matsuzaki, H.; Murakami, H. IEEE Trans. Electron Devices 2001, 48, 1568.
2. Weber, L. F. In Flat-panel Displays and CRTs; Tannas, L. E., Ed.; Van Nostrand Reinhold: Now York, 1985.
3. Matulevich, Y. T.; Vink, T. J.; Zeijlmans van Emmichoven, P. A. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 167601.
4. Freund, H.-J. Surf. Sci. 2002, 500, 271.
5. Sanchez, A.; Abbet, S.; Heiz, U.; Schneider, W. D.; Ferrari, A. M.; Pacchioni, G.; Rösch, N. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 3453.
6. Sanchez, A.; Abbet, S.; Heiz, U.; Schneider, W. D.; Häkkinen, H.; Barnett, R. N.; Landmann, U. J. Phys. Chem. A 1999, 103, 9573.
7. Bäumer, M.; Freund H.-J. Prog. Surf. Sci. 1999, 61, 127.
8. Haas, G.; Menck, A.; Brune, H.; Barth, J. V.; Venables, J. A.; Kern, K. Phys. Rev. B 2000, 61, 11105.
9. Tong, X.; Benz, L.; Kemer, P.; Metiu, H.; Bowers, M. T.; Buratto, S. K. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 13516.
10. Basset, J. M.; Lefebvre, F.; Santini, C. Coord. Chem. Rev. 1998, 178, 1703.
11. Gunter, P. L. J.; Niemantsverdriet, J. W.; Ribeiro, F. H.; Somorjai, G. A. Catal. Rev. Sci. Eng. 1997, 39, 77.
12. Schroeder, T.; Adelt, M.; Richter, B.; Naschitzki, M.; Bäumer, M.; Freund, H.-J. Surf. Rev. Lett. 2000, 7, 7.
13. Schroeder, T.; Giorgi, J. B.; Bäumer, M.; Freund, H.-J. Phys. Rev. B 2002, 66, 165422.
14. Todorova, T. K.; Sierka, M.; Sauer, J.; Kaya, S.; Weissenrieder, J.; Lu, J.-L.; Gao, H.-J.; Shaikhutdinov, S.; Freund, H.-J. Phys. Rev. B 2006, 73, 165414.
15. Ozensoy, E.; Min, B. K.; Santra, A. K.; Goodman, D. W. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 4351.
16. Kim, Y. D.; Wie, T.; Goodman, D. W. Langmuir 2003, 19, 354.
17. Wallace, W. T.; Min, B. K.; Goodman, D. W. J. Mol. Catal. A: Chem. 2005, 228, 3.
18. Luo, K.; Kim, Y. D.; Goodman, D. W. J. Mol. Catal. A: Chem. 2001, 167, 191.
19. Chen, M. S.; Goodman, D. W. Surf. Sci. 2005, 574, 259.
20. Chen, M. S.; Goodman D. W. Science 2004, 306, 252.
21. Min, B. K.; Wallace, W. T.; Goodman, D. W. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14609.
22. Min, B. K.; Santra, A. K.; Goodman, D. W. Catal. Today 2003, 85, 113.
23. Weissenrieder, J.; Kaya, S.; Lu, J. L.; Gao, H. J.; Shaikhutdinov, S.; Freund, H.-J.; Sierka, M.; Todorova, T. K.; Sauer, J. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 076103.
24. Ricci, D.; Pacchioni, G. Phys. Rev. B 2004, 69, 161307.
25. Todorova, T. K.; Sierka, M.; Sauer, J.; Kaya, S.; Weissenrieder, J.; Lu, J. L.; Gao, H. J.; Shaikhutdinov, S.; Freund, H.-J. Phys. Rev. B 2006, 73, 165414.
26. Giordano, L.; Ricci, D.; Pacchioni, G.; Ugliengo, P. Surf. Sci. 2005, 584, 225.
27. Sierka, M.; Todorova, T. K.; Kaya, S.; Stacchiola, D.; Weissenrieder, J.; Lu, J.; Gao, H.; Shaikhutdionv, S.; Freund, H.-J.; Sauer, J. Chem. Phys. Lett. 2006, 424, 115.
28. Lu, J. L.; Kaya, S.; Weissenrieder, J.; Gao, H.-J.; Shaikhutdinov, S.; Freund, H.-J. Surf. Sci. In press.
29. Giordano, L.; Del Vitto, A.; Pacchioni, G. J. Chem. Phys. 2006, 124, 034701-7.
30. Wallace, W. T.; Min, B. K.; Goodman, D. W. Top. Catal. 2005, 34, 17.
31. Min, B. K.; Wallace, W. T.; Santra, A. K.; Goodman, D. W. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 16339.
32. 2 and Related Dielectrics: Science and Technology; Pacchioni, G., Skuja, L., Griscom, D. L., Eds.; NATO Science Series, Series II; Kluwer: Dordrecht, pp 339 and 1999.
33. Bobyshev, A. A.; Radzig, V. A. Kinet. Katal. 1988, 29, 638.
34. 2 and related dielectrics: science and technology; NATO Science Series II, Kluwer: Dordrecht, 2000.
35. Beck, J. S.; Vartulli, J. C.; Roth, W. J.; Leonowicz, M. E.; Kregse, C. T.; Schmitt, K. D.; Chu, C. T. W.; Olson, D. H.; Sheppard, E. W.; McCullen, S. B.; Higgins, J. B.; Schlenker, J. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 10834.
36. Perdew, J. P.; Chevary, J. A.; Vosko, S. H.; Jackson, K. A.; Pederson, M. R.; Singh, D. J.; Fiolhais, C. Phys. Rev. B 1992, 46, 6671.
37. Kresse, G.; Hafner, J. Phys. Rev. B 1993, 47, 558.
38. Kresse, G.; Furthmüller, J. Phys. Rev. B 1996, 54, 11169.
39. Blöchl, P. E. Phys. Rev. B 1994, 50, 17953.
40. Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B 1985, 31, 805.
41. Del Vitto, A.; Pacchioni, G.; Lim, K. H.; Rösch, N.; Antonietti, J.-M.; Michalski, M.; Heiz, U.; Jones, H. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 19876.
42. Antonietti, J.-M.; Michalski, M.; Heiz, U.; Jones, H.; Lim, K. H.; Rösch, N.; Del Vitto, A.; Pacchioni, G. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 213402.