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Volumn 19, Issue 3, 2006, Pages 385-388

Resist-pattern guided self-assembly of symmetric diblock copolymer

Author keywords

AFM; Block copolymer; Graphoepitaxy; Self assembly

Indexed keywords


EID: 33747445554     PISSN: 09149244     EISSN: 13496336     Source Type: Journal    
DOI: 10.2494/photopolymer.19.385     Document Type: Article
Times cited : (15)

References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.