Surface plasmon resonance of silver nanoparticles on vanadium dioxide

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 5, 2006, Pages 2051-2056

  Xu, Gang ^a   Chen, Yong ^a   Tazawa, Masato ^b   Jin, Ping ^b  

^a GUANGZHOU INSTITUTE OF ENERGY CONVERSION   (China)

^b NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

NANOSTRUCTURED MATERIALS; SILVER; THIN FILMS; VANADIUM COMPOUNDS;

DIELECTRIC FUNCTION; EXCITATION WAVELENGTH; SILVER NANOPARTICLES; TEMPERATURE DEPENDENCE;

SURFACE PLASMON RESONANCE;

EID: 33644758583     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp055744j     Document Type: Article

References (64)

1. Kreibig, U.; Vollmer, M. Optical Properties of Metal Clusters; Springer-Verlag: Heidelberg, Germany, 1995; Vol. 25.
2. Dirix, Y.; Bastiaansen, C.; Caseri, W.; Smith, P. Adv. Mater. 1999, 11, 223.
3. Gotschy, W.; Vonmetz, K.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Opt. Lett. 1996, 21, 1099.
4. (a) Nikolajsen, T.; Lessson, K.; Salakhutdinov, I.; Bozhevolnyi, S. I. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 668.
5. (b) Bozhevolnyi, S. I.; Erland, J.; Leosson, K.; Skovgaard, P. M. W. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 3008.
6. Barnes, W. L.; Dereux, A.; Ebbesen, T. W. Nature 2003, 424, 824.
7. (a) Malinsky, M. D.; Kelly, K. L.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 1471.
8. (b) Haes, A. J.; Van Duyne, R. P. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10596.
9. (c) Haynes, C. L.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5599.
10. (a) Mirkin, C. A.; Letsinger, R. L.; Mucic, R. C.; Storhoff, J. J. Nature 1996, 382, 607.
11. (b) Elghanian, R.; Storhoff, J. J.; Mucic, R. C.; Letsinger, R. L.; Mirkin, C. A. Science 1997, 277, 1078.
12. (c) Cao, Y. W.; Jin, R.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7961.
13. (a) Hövel, H.; Fritz, S.; Hilger, A.; Kreibig, U.; Vollmer, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 18178.
14. (b) Kreibig, U.; Gartz, M.; Hilger, A. Ber. Bunsen-Ges. Phys. Chem. 1997, 101, 1593.
15. (c) Hilger, A.; Cuppers, N.; Tenfelde, M.; Kreibig, U. Eur. Phys. J. D 2000, 10, 115.
16. Henglein, A.; Meisel, D. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 8364.
17. Moskovits, M. Rev. Mod. Phys. 1985, 57, 783.
18. (a) Van Duyne, R. P.; Hulteen, J. C.; Treichel, D. A. J. Chem. Phys. 1993, 99, 2101.
19. (b) Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P.; Johnson, S. A.; Maroni, V. A. Appl. Spectrosc. 2000, 54, 371.
20. (c) Emory, S. R.; Nie, S. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 493.
21. Kelly, K. L.; Coronado, E.; Zhao, L. L.; Schatz, G. C. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 668.
22. Royer, P.; Goudonnet, J. P.; Warmack, R. J.; Ferrell, T. L. Phys. Rev. B 1987, 35, 3753.
23. Malinsky, M. D.; Kelly, K. L.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 2343.
24. Xu, G.; Tazawa, M.; Jin, P.; Nakao, S.; Yoshimura, K. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3811.
25. Persson, B. N. J. Surf. Sci. 1993, 281, 153.
26. (a) Henglein, A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8457.
27. (b) Henglein, A. Chem. Rev. 1989, 89, 1861.
28. (c) Linnert, T.; Mulvaney, P.; Henglein, A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 679.
29. (a) Oldenburg, S. J.; Jackson, J. B.; Westcott, S. L.; Halas, N. J. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2897.
30. (b) Oldenburg, S. J.; Jackson, J. B.; Westcott, S. L.; Halas, N. J. Chem. Phys. Lett. 1998, 288, 243.
31. Liz-Marzán, L. M.; Giersig, M.; Mulvaney, P. Langmuir 1996, 12, 4329.
32. (a) Henglein, A. Ber. Bunsen-Ges. Phys. Chem. 1980, 84, 253.
33. (b) Henglein, A.; Giersig, M. J. Phys. Chem. 1994, 98, 6931.
34. (c) Hodak, J. H.; Henglein, A.; Hartland, G. V. J. Chem. Phys. 2001, 114, 2760.
35. Sinzig, J.; Radtke, U.; Quinten, M.; Kreibig, U. Z. Phys. D 1993, 26, 242.
36. Mulvaney, P.; Giersig, M.; Henglein, A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 7061.
37. Link, S.; Wang, Z. L.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3529.
38. Baba, K.; Ohkuma, Y.; Yonezawa, T.; Miyagi, M. Appl. Opt. 2001, 40, 2796.
39. (a) Foss, C. A.; Hornyak, G. L.; Stockert, J. A.; Martin, C. R. J. Phys. Chem. 1994, 98, 2963.
40. (b) Hornyak, G. L.; Patrissi, C. J.; Martin, C. R. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1548.
41. Yu, Y.; Chang, S.; Lee, C.; Wang, C. R. C. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 6661.
42. (a) Mohamed, M. B.; Link, S.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9370.
43. (b) Link, S.; Mohamed, M. B.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3073.
44. (a) Hulteen, J. C.; Treichel, D. A.; Smith, M. T.; Duval, M. L.; Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 3854.
45. (b) Jensen, T. R.; Malinsky, M. D.; Haynes, C. L.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 10549.
46. (c) Haynes, C. L.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5599.
47. Petroski, J. M.; Wang, Z. L.; Green, T. C.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3316.
48. (a) Jin, R.; Cao, Y.; Mirkin, C. A.; Kelly, K. L.; Schatz, G. C.; Zhang, J. G. Science 2001, 294, 1901.
49. (b) Jin, R.; Cao, Y.; Hao, E.; Métraux, G. S.; Schatz, G. C.; Mirkin, C. A. Nature 2003, 425, 487.
50. (a) Yang, W. H.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Chem. Phys. 1995, 103, 869.
51. (b) Zeman, E. J.; Schatz, G. C. J. Phys. Chem. 1987, 91, 634.
52. (c) Coronado, E. A.; Schatz, G. C. J. Chem. Phys. 2003, 119, 3926.
53. Goodenough, J. B. J. Solid State Chem. 1971, 3, 490.
54. (a) Jin, P.; Tazawa, M.; Yoshimura, K.; Igarashi, K.; Tanemura, S.; Macák, K.; Helmersson, U. Thin Solid Films 2000, 375, 128.
55. (b) Jin, P.; Nakao, S.; Tanemura, S.; Bell, T.; Wielunski, L. S.; Swain, M. V. Thin Solid Films 1999, 343-344, 134.
56. Marton, J. P.; Lemon, J. R. Phys. Rev. B 1971, 4, 271.
57. (a) Granqvist, C. G.; Hunderi, O. Phys. Rev. B 1977, 16, 3513.
58. (b) Norrman, S.; Andersson, T.; Granqvist, C. G. Phys. Rev. B 1978, 18, 674.
59. (c) Lee, M. H.; Dobson, P. J.; Cantor, B. Thin Solid Films 1992, 219, 199.
60. (a) Link, S.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4212.
61. (b) Link, S.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8410.
62. Palik, E. D. Handbook of Optical constants of Solids; Academic Press: San Diego, CA, 1998.
63. (a) Stockle, R. M.; Deckert, V.; Fokas, C.; Zenobi, R. Appl. Spectrosc. 2000, 54, 1577.
64. (b) Kim, H. C.; Alford, T. L.; Allee, D. R. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4287.