Nanosphere lithography: Tunable localized surface plasmon resonance spectra of silver nanoparticles

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 104, Issue 45, 2000, Pages 10549-10556

  Jensen, Traci R ^a,b   Malinsky, Michelle Duval ^a   Haynes, Christy L ^a   Van Duyne, Richard P ^a  

^a NORTHWESTERN UNIVERSITY   (United States)

^b Omega Optical Inc   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LITHOGRAPHY; NANOTECHNOLOGY; OPTICAL PROPERTIES; PARTICLES (PARTICULATE MATTER); SILVER; SPECTROSCOPIC ANALYSIS;

NANOPARTICLES; NANOSPHERE LITHOGRAPHY (NSL); SURFACE PLASMON RESONANCE;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 0034321104     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp002435e     Document Type: Article

References (72)

1. Kreibig, U.; Vollmer, M. Optical Properties of Metal Clusters; Springer-Verlag: Heidelberg, Germany, 1995; Vol. 25.
2. Quinten, M.; Leitner, A.; Krenn, J. R.; Aussenegg, F. R. Opt. Lett. 1998, 23, 1331-1333.
3. Krenn, J. R.; Dereux, A.; Weeber, J. C.; Bourillot, E.; Lacroute, Y.; Goudonnet, J. P. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 2590-2593.
4. Novotny, L.; Bian, R. X.; Xie, S. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 645648.
5. Jersch, J.; Dickmann, K. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 868-870.
6. Jersch, J.; Demming, F.; Dickmann, K. Appl. Phys. A 1997, 64, 29-32.
7. Jersch, J.; Demming, F.; Hildenhagen, L. J.; Dickmann, K. Appl. Phys. A 1998, 66, 29-34.
8. Ebbesen, T. W.; Lezec, H. J.; Ghaemi, H. F.; Thio, T.; Wolff, P. A. Nature 1998, 391, 667-669.
9. Pendry, J. B. Science 1999, 285, 1687-1688.
10. Pufall, M. R.; Berger, A.; Schultz, S. J. Appl. Phys. 1997, 81, 56895691.
11. Hamann, H. F.; Gallagher, A.; Nesbitt, D. J.Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 1469-1471.
12. Knoll, B.; Kellmann, F. Nature 1999, 399, 134-137.
13. Sanchez, E. J.; Novotny, L.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4014-4017.
14. Gu, M.; Ke, P. C. Opt. Lett. 1999, 24, 74-76.
15. Svoboda, K.; Block, S. M. Opt. Lett. 1994, 19, 930-932.
16. Feldstein, M. J.; Keating, C. D.; Liau, Y.-H.; Natari, M. J.; Scherer, N. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 6638-6647.
17. Fukumi, K.; Chayahara, A.; Kadono, K;; Sakaguchi, T.; Horino, Y.; Miya, M.; Fujii, K.; Hayakawa, J.; Satou, M. J. Appl. Phys. 1994, 75, 3075-3079.
18. Haglund, R. F., Jr.; Yang, L.; Magruder, R. H., III; Wittig, J. E.; Becker, K.; Zuhr, R. A. Opt. Lett. 1993, 18, 373-375.
19. Neuendorf, R.; Quinten, M.; Kreibig, U. J. Chem. Phys. 1996, 104, 6348-6354.
20. Haus, J. W.; Kalyaniwalla, N.; Inguva, R.; Bowden, C. M. J. Appl. Phys. 1989, 65/1420-1423.
21. Elghanian, R.; Storhoff, J. J.; Mucic, R. C.; Letsinger, R. L.; Mirkin, C. A. Science 1997, 277, 1078-1081.
22. Bauer, G.; Pittner, F.; Schalkhammer, T. Mikrochim. Acta 1999, 131, 107-114.
23. Dirix, Y.; Bastiaansen, C.; Caseri, W.; Smith, P. Adv. Mater. 1999, 11, 223-227.
24. Kroschwitz, J. I.; Howe-Grant, M. Glass. In Encyclopedia of Chemical Technology, 4th ed.; Kroschwitz, J. I., Howe-Grant, M., Eds.; John Wiley & Sons: New York, 1994; Vol. 12, pp 569-571.
25. Campion, A.; Kambhampati, P. Chem. Soc. Rev. 1998, 27, 241250.
26. Nie, S.; Emory, S. R. Science 1997, 275, 1102-1106.
27. Emory, S. R.; Nie, S. Anal. Chem. 1997, 69, 2631-2635.
28. Emory, S. R.; Nie, S. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 493-497.
29. Emory, S. R.; Haskins, W. E.; Nie, S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 8009-8010.
30. Emory, S. R.; Nie, S. Nature 1998.
31. Michaels, A. M.; Nirmal, M.; Brus, L. E. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 9932-9939.
32. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Deinum, G.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Appl. Spectrosc. 1998, 52, 175-178.
33. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Kartha, V. B.; Manoharan, R.; Deinum, G.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. E 1998, 57, R6281R6284.
34. Kneipp, K.; Wang, Y.; Kneipp, H.; Perelman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667-1670.
35. Van Duyne, R. P.; Hulteen, J. C.; Treichel, D. A. J. Chem. Phys. 1993, 99, 2101-2115.
36. Caldwell, W. B.; Chen, K.; Herr, B. R.; Mirkin, C. A.; Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P. Langmuir 1994, 10, 4109-4115.
37. Yang, W. H.; Hulteen, J. C.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Chem. Phys. 1996, 104, 4313-4323.
38. Pipino, A. C. R.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. Phys. Rev. B 1996, 55, 4162-4169.
39. Wadayama, T.; Suzuki, O.; Takeuchi, K.; Seki, H.; Tanabe, T.; Suzuki, Y.; Hatta, A. Appl. Phys. A 1999, 69, 77-80.
40. Tarcha, P. J.; DeSaja-Gonzalez, J.; Rodriguez-Llorente, S.; Aroca, R. Appl. Spectrosc. 1999, 53, 43-48.
41. Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P.; Johnson, S. A.; Maroni, V. A. Appl. Spectrosc. 2000, 54, 371-377.
42. Jeanmaire, D. L.; Van Duyne, R. P. J. Electroanal. Chem. 1977, 84, 1-20.
43. Xu, H.; Bjerneld, E. J.; Kali, M.; Borjesson, L. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 4357-4360.
44. Craighead, H. G.; Niklasson, G. A. Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 1134-1136.
45. Acker, W. P.; Schlicht, B.; Chang, R. K.; Barber, P. W. Opt. Lett. 1987, 12, 465.
46. Gotschy, W.; Vonmetz, K.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Appl. Phys. 51996, 65, 381-384.
47. Gotschy, W.; Vonmetz, K.; Leitner, A.; Aussenegg, F. R. Opt. Lett. 1996. 21, 1099-1101.
48. Hornyak, G. L.; Patrissi, C. J.; Martin, C. R. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 1548-1555.
49. Hornyak, G. L.; Martin, C. R. Thin Solid Films 1997, 303, 84-88.
50. Al-Rawashdeh, N. A. F.; Sandrock, M. L.; Seugling, C. J.; Foss, C. A., Jr. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 361-371.
51. Buncick, M. C.; Warmack, R. J.; Ferrell, T. L. J. Opt. Soc. Am. B 1987, 4, 927-933.
52. Oldenburg, S. J.; Jackson, J. B.; Westcott, S. L.; Halas, N. J. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2897-2899.
53. Oldenburg, S. J.; Averitt, R. D.; Westcott, S. L.; Halas, N. J. Chem. Phys. Lett. 1998, 288, 243-247.
54. Westcott, S. L.; Oldenburg, S. J.; Lee, T. R.; Halas, N. J. Langmuir 1998, 14, 5396-5401.
55. Hulteen, J. C.; Treichel, D. A.; Smith, M. T.; Duval, M. L.; Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 1999, 3854-3863.
56. Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P. J. Vac. Sci. Technol. A 1995, 13, 1553-1558.
57. Zeman, E. J.; Schatz, G. C.V. Phys. Chem. 1987, 91, 634-643.
58. Jensen, T. R.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 1999, 2394-2401.
59. Jensen, T. R.; Duval, M. L.; Kelly, L.; Lazarides, A.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 1999, 9846-9853.
60. Willard, H. H.; Merritt, L. L., Jr.; Dean, J. A. Instrumental Methods of Analysis, Fourth ed.; D. Van Nostrand Company, Inc.: Princeton, NJ, 1965.
61. Drago, R. S. Physical Methods for Chemists, 2nd ed.; Saunders College Publishing: Harcourt Brace Jovanovich College Publishers, Fort Worth, TX, 1992.
62. Link, S.; El-Sayed, M. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 84108426. :
63. Klar, T.; Ferner, M.; Grosse, S.; von Plessen, G.; Spirkl, W.; Feldmann, J. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 4249-4252.
64. Yang, W. H.; Schatz, G. C.; Van Duyne, R. P. J. Chem. Phys. 1995, 103, 869-875.
65. Jensen, T. R.; Kelly, L.; Lazarides, A.; Schatz, G. C. J. Clust. Sci. 1999, 10, 295-317.
66. Stuart, H. R.; Hall, D. G. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3815-3817.
67. Stuart, H. R.; Hall, D. G. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2327-2329.
68. Malinsky, M. D.; Jensen, T. R.; Van Duyne, R. P. Submitted.
69. Kreibig, U.; Ganz, M.; Hilger, A. Ber. Bimsen-Ges. Phys. Chem. 1997, 101, 1593-1604.
70. Wiese, W. L.; Smith, M. W.; Glennon, B. M. Atomic Transition Probabilities; National Bureau of Standards: Washington, DC, 1966; Vol. I.
71. Wiese, W. L.; Smith, M. W.; Glennon, B. M. Atomic Transition Probabilities; National Bureau of Standards: Washington, DC, 1969; Vol. II.
72. Ershov, B. G.; Janata, E.; Henglein, A.; Fojtik, A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 4589-4594.