Chemisorption of C60 on the Si(001)-2×1 surface at room temperature

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 23, Issue 3, 2005, Pages 1018-1023

  Cheng, C P ^a   Pi, T W ^b   Ouyang, C P ^b   Wen, J F ^c  

^a NATIONAL CHIAYI UNIVERSITY   (Taiwan)

^b NATIONAL SYNCHROTRON RADIATION RESEARCH CENTER   (Taiwan)

^c NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL BONDS; CHEMISORPTION; PHOTOEMISSION; SURFACE CHEMISTRY; SYNCHROTRON RADIATION; THERMAL EFFECTS;

COVALENT BONDS; HYBRIDIZATION; ROOM TEMPERATURE;

FULLERENES;

EID: 29444438305     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.1924608     Document Type: Article

References (49)

1. A. V. Hamza, M. Balooch, and M. Moalem, Surf. Sci. 317, L1129 (1994).
2. L. Moro, A. Paul, D. C. Lorents, R. Malhotra, R. S. Ruoff, P. Lazzeri, L. Vanzetti, A. Lui, and S. Subramoney, J. Appl. Phys. 81, 6141 (1997).
3. T. Wakita, K. Sakamoto, A. Kasuya, Y. Nishina, and S. Suto, Appl. Surf. Sci. 144-145, 653 (1999).
4. K. Sakamoto, D. Kondo, Y. Ushimi, M. Harada, A. Kimura, A. Kakizaki, and S. Suto, Phys. Rev. B 60, 2579 (1999).
5. K. Sakamoto, M. Harada, H. Ashima, T. Suzuki, T. Wakita, A. Kasuya, and S. Suto, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 88-91, 897 (1998).
6. S. Suto, K. Sakamoto, T. Wakita, C.-W. Hu, and A. Kasuya, Phys. Rev. B 56, 7439 (1997).
7. T. Hashizume, X.-D. Wang, Y. Nishina, H. Shinohara, Y. Saito, Y. Kuk, and T. Sakurai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 31, L880 (1992).
8. X.-D. Wang, T. Hashizume, H. Shinohara, Y. Saito, Y. Nishina, and T. Sakurai, Phys. Rev. B 47, 15923 (1993).
9. T. Hashizume and T. Sakurai, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1992 (1994).
10. A. V. Hamza and M. Balooch, Chem. Phys. Lett. 201, 404 (1993).
11. D. Chen and D. Sarid, Surf. Sci. 318, 74 (1994).
12. D. Chen and D. Sarid, Surf. Sci. 329, 206 (1995).
13. X. Yao, T. G. Ruskell, R. K. Workman, D. Sarid, and D. Chen, Surf. Sci. 367, L85 (1996).
14. X. Yao, T. G. Ruskell, R. K. Workman, D. Sarid, and D. Chen, Surf. Sci. 366, L743 (1996).
15. D. Kondo, K. Sakamoto, H. Takeda, F. Matsui, K. Amemiya, T. Ohta, W. Uchida, and A. Kasuya, Surf. Sci. 514, 337 (2002).
16. K. Sakamoto, D. Kondo, M. Harada, A. Kimura, and S. Suto, Surf. Sci. 433-435, 642 (1999).
17. A. Yajima and M. Tsukada, Surf. Sci. 366, L715 (1996).
18. A. Yajima and M. Tsukada, Surf. Sci. 357-358, 355 (1996).
19. Y. Kawazoe, H. Kamiyama, Y. Maruyama, and K. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 1433 (1993).
20. T. Yamaguchi, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1932 (1994).
21. T. Yamaguchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 2914 (1993).
22. T. Yamaguchi, J. Phys. Soc. Jpn. 62, 3651 (1993).
23. P. D. Godwin, S. D. Kenny, and R. Smith, Surf. Sci. 529, 237 (2003).
24. A. Ishizaka and Y. Shiraki, J. Electrochem. Soc. 133, 666 (1986).
25. J. H. Weaver, J. L. Martins, T. Komeda, Y. Chen, T. R. Ohno, G. H. Kroll, N. Troullier, R. E. Haufler, and R. E. Smalley, Phys. Rev. Lett. 66, 1741 (1991).
26. A. J. Maxwell, P. A. Brühwiler, A. Nilsson, N. Mårtensson, and P. Rudolf, Phys. Rev. B 49, 10717 (1994).
27. G. K. Wertheim and D. N. E. Buchanan, Solid State Commun. 88, 97 (1993).
28. G. K. Wertheim and D. N. E. Buchanan, Phys. Rev. B 50, 11070 (1994).
29. L. Q. Jiang and B. E. Koel, Chem. Phys. Lett. 223, 69 (1994).
30. S. J. Chase, W. S. Bacsa, M. G. Mitch, L. J. Pilione, and J. S. Lannin, Phys. Rev. B 46, 7873 (1992).
31. A. Sellidj and B. E. Koel, J. Phys. Chem. 97, 10076 (1993).
32. S. C. Wu, K. Xun, J. Z. Deng, J. Yao, F. Q. Liu, S. H. Lu, Z. Q. Wang, R. S. Han, and Z. N. Gu, Phys. Rev. B 47, 13830 (1993).
33. W. Krätschmer, L. D. Lamb, K. Fostiropoulos, and D. R. Huffman, Nature (London) 347, 354 (1990).
34. S. Liu, Y. Lu, M. M. Kappes, and J. A. Ibers, Science 254, 408 (1991).
35. P. A. Heiney, J. E. Fischer, A. R. Mcghie, W. J. Romanow, A. M. Denenstein, J. P. McCauley, Jr., A. B. Smith III, and D. E. Cox, Phys. Rev. Lett. 66, 2911 (1991).
36. M. Biermann, B. Krummacher, and W. Eberhardt, Solid State Commun. 95, 1 (1995).
37. T.-W. Pi, I.-H. Hong, C.-P. Cheng, and G. K. Wertheim, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 107, 163 (2000).
38. E. Landemark, C. J. Karlsson, Y.-C. Chao, and R. I. G. Uhrberg, Phys. Rev. Lett. 69, 1588 (1992).
39. G. K. Wertheim, D. M. Riffe, J. E. Rowe, and P. H. Citrin, Phys. Rev. Lett. 67, 120 (1991).
40. Y.-C. Chao, L. S. O. Johansson, and R. I. G. Uhrberg, Phys. Rev. B 54, 5901 (1996).
41. C. J. Powell, A. Jablonski, I. S. Tilini, S. Tanuma, and D. R. Penn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 98-99, 1 (1999).
42. W. Mönch, Semiconductor Surfaces and Interfaces, edited by, G. Ertl, R. Gomer, and, D. L. Mills, Springer Series in Surface Science, Vol. 26 (Springer, Berlin, 1995).
43. P. Reinke, D. Rudmann, and P. Oelhafen, Phys. Rev. B 61, 16967 (2000).
44. V. M. Bermudez and J. P. Long, Appl. Phys. Lett. 66, 475 (1995).
45. G. Dufour, F. Rochet, F. C. Stedile, Ch. Poncey, M. De Crescenzi, R. Gunnella, and M. Froment, Phys. Rev. B 56, 4266 (1997).
46. J. E. Rowe, P. Rudolf, L. H. Tjeng, R. A. Malic, G. Meigs, C. T. Cheng, J. Chen, and E. W. Plummer, Int. J. Mod. Phys. B 6, 3909 (1992).
47. V. M. Bermudze, J. Appl. Phys. 63, 4951 (1988).
48. C. Cepek, P. Schiavuta, M. Sancrotti, and M. Pedio, Phys. Rev. B 60, 2068 (1999).
49. C. R. Brundle, Surf. Sci. 48, 99 (1975).