Orientation and bonding of 4,4′-biphenyldiisocyanide

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 22, 2004, Pages 6910-6914

  Caruso, A N ^a   Rajesh, R ^a   Gallup, G ^a   Redepenning, J ^a   Dowben, P A ^a  

^a UNIVERSITY OF NEBRASKA LINCOLN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ENERGY RESOLUTION; FUNCTIONAL GROUPS; MOLECULAR AXIS; MOLECULAR ORBITAL GAP;

CHEMICAL BONDS; ELECTRONIC STRUCTURE; FERMI LEVEL; FUNCTIONS; PHOTOEMISSION; POINT GROUPS; POLARIZATION;

ORGANIC COMPOUNDS;

EID: 2942707933     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp037710m     Document Type: Article

References (48)

1. Heath, J. A.; Ratner, M. A. Phys. Today 2003, 43.
2. Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1994, 29, 277.
3. Martin, A. S.; Sambles, J. R.; Ashwell, G. Phys. Rev. Lett. 1994, 70, 218.
4. Howell, S.; Kuila, D.; Kasibhatla, B.; Kubiak, C. P.; Janes, D.; Reifenberger, R. Langmuir 2002, 18, 5120-5125.
5. Janes, D. B.; Lee, T.; Liu, J.; Batistuta, M.; Chen, N. P.; Walsh, B. L.; Andres, R. P.; Chen, E. H.; Melloch, M. R.; Woodall, J. M.; Reifenberger, R. J. Electron. Mater. 2000, 29, 565-569.
6. Janes, D. B.; Batistuta, M.; Datta, S.; Melloch, M. R.; Andres, R. P.; Liu, J.; Chen, N. P.; Lee, T.; Reifenberger, R.; Chen, E. H.; Woodall, J. M. Superlattices Microstruct. 2000, 27, 555-563.
7. Tian, W. D.; Datta, S.; Hong, S. H.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. J. Chem. Phys. 1998, 109, 2874-2882.
8. Wang, W. Y.; Lee, T.; Reed, M. A. Phys. Rev. B 2003, 68, Art. No. 035416.
9. Wang, W. Y.; Lee, T.; Reed, M. A. Physica E 2003, 19, 117-125.
10. Chen, J.; Su, J.; Wang, W.; Reed, M. A. Physica E 2003, 16, 17-23.
11. Tour, J. M.; Rawlett, A. M.; Kozaki, M.; Yao, Y. X.; Jagessar, R. C.; Dirk, S. M.; Price, D. W.; Reed, M. A.; Zhou, C. W.; Chen, J.; Wang, W. Y.; Campbell, I. Eur. J. Chem. A 2001, 7, 5118-5134.
12. Robertson, N.; McGowan, C. A. Chem. Soc. Rev. 2003, 32, 96-103.
13. Fan, F. R. F.; Yang, J. P.; Cai, L. T.; Price, D. W.; Dirk, S. M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y. X.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550-5560.
14. Reed, M. A. MAS Bull. 2001, 26, 113-120.
15. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254.
16. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705-1707.
17. Schön, J. H.; Meng, H.; Bao, Z. Nature 2001, 413, 713.
18. Schön, J. H.; Meng, H.; Bao, Z. Science 2001, 294, 2138.
19. Datta, S.; Tian, W.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2530.
20. Ovchenkov, Y. A.; Geisler, H.; Burst, J. M.; Thomburg, S. N.; Ventrice, C. A., Jr.; Zhang, C.; Redepenning, J.; Losovyj, Y.; Rosa, L.; Dowben, P. A.; Doudin, B. Chem. Phys. Lett. 2003, 381, 7-13 and references therein.
21. Caruso, A. N.; Rajesekaran, R.; Gallup, G.; Redepenning, J.; Dowben, P. A. J. Phys.: Condens. Matter 2004, 16, 845-860.
22. Dirk, S. M.; Tour, J. M. Tetrahedron 2003, 59, 287-293.
23. Chen, J.; Wang, W.; Klemic, J.; Reed, M. A.; Axelrod, B. W.; Kaschak, D. M.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Dirk, S. M.; Tour, J. M.; Grubisha, D. S.; Bennett, D. W. Ann. N. Y. Acad. Sci. 2002, 960, 69-99.
24. Chen, J.; Calvet, L. C.; Reed, M. A.; Carr, D. W.; Grubisha, D. S.; Bennett, D. W. Chem. Phys. Lett. 1999, 313, 741-748.
25. Hong, S.; Reifenberger, R.; Tian, W.; Datta, S.; Henderson, J.; Kubiak, C. P. Superlattices Microstruct. 2000, 28, 289-303.
26. Henderson, J. I.; Feng, S.; Bein, T.; Kubiak, C. P. Langmuir 2000, 16, 6183-6187.
27. Henderson, J. I.; Feng, S.; Ferrence, G. M.; Bein T.; Kubiak, C. P. Inorg. Chim. Acta 1996, 242, 115.
28. Dowben, P. A.; LaGraffe, D.; Onellion, M. J. Phys. Condens. Matter 1989, 1, 6571.
29. Dowben, P. A.; Choi, J.; Morikawa, E.; Xu, B. Handbook of Thin Films, Volume 2: Characterization and Spectroscopy of Thin Films; Academic Press: New York, 2002; Chapter 2, pp 61-114.
30. Erdman, P. W.; Zipf, E. C. Rev. Sci. Instum. 1982, 53, 225-227.
31. Schmidt, M. W.; Baldridge, K. K.; Boatz, J. A.; Elbert, S. T.; Gordon, M. S.; Jensen, J. H.; Koseki, S.; Matsunaga, N.; Nguyen, K. A.; Su, S. J.; Windus, T. L.; Dupuis, M.; Montomery, J. A. J. Comput. Chem. 1993, 14, 1347-1363.
32. Welipitiya, D.; Dowben, P. A.; Zhang, J.; Pai W. W.; Wendeten, J. F. Surf. Sci. 1996, 367, 20-32. Waldfried, C.; Welipitiya, D.; Hutchings, C. W.; de Silva, H. S. V.; Gallup, G. A.; Dowben, P. A.; Pai, W. W.; Zhang, J.; Wendelken J. F.; Boag, N. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9782-9789. Welipitiya, D.; Borca, C. N.; Waldfried, C.; Hutchings, C.; Sage, L.: Woodbridge, C. M.; Dowben, P. A. Surf. Sci. 1997, 393, 34-46.
33. Welipitiya, D.; Dowben, P. A.; Zhang, J.; Pai W. W.; Wendeten, J. F. Surf. Sci. 1996, 367, 20-32. Waldfried, C.; Welipitiya, D.; Hutchings, C. W.; de Silva, H. S. V.; Gallup, G. A.; Dowben, P. A.; Pai, W. W.; Zhang, J.; Wendelken J. F.; Boag, N. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9782-9789. Welipitiya, D.; Borca, C. N.; Waldfried, C.; Hutchings, C.; Sage, L.: Woodbridge, C. M.; Dowben, P. A. Surf. Sci. 1997, 393, 34-46.
34. Welipitiya, D.; Dowben, P. A.; Zhang, J.; Pai W. W.; Wendeten, J. F. Surf. Sci. 1996, 367, 20-32. Waldfried, C.; Welipitiya, D.; Hutchings, C. W.; de Silva, H. S. V.; Gallup, G. A.; Dowben, P. A.; Pai, W. W.; Zhang, J.; Wendelken J. F.; Boag, N. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 9782-9789. Welipitiya, D.; Borca, C. N.; Waldfried, C.; Hutchings, C.; Sage, L.: Woodbridge, C. M.; Dowben, P. A. Surf. Sci. 1997, 393, 34-46.
35. Duan, Chun-gang; Mei, W. N.; Hardy, J. R.; Ducharme, S.; Choi, J.; Dowben, P. A. Europhys. Lett. 2003, 61, 81-87.
36. Caruso, A. N.; Bernard, L.; Xu, B.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 9620-9623. Lee, S.; Li, D.; Dowben, P. A.; Perkins, F. K.; Onellion, M.; Spencer, J. T. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 8444-8447. Zhang, J.; McIlroy, D. N.; Dowben, P. A.; Zeng, H.; Vidali, G.; Heskett, D.; Onellion, M. J. Phys. Cond. Matter 1995, 7, 7185-7194.
37. Caruso, A. N.; Bernard, L.; Xu, B.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 9620-9623. Lee, S.; Li, D.; Dowben, P. A.; Perkins, F. K.; Onellion, M.; Spencer, J. T. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 8444-8447. Zhang, J.; McIlroy, D. N.; Dowben, P. A.; Zeng, H.; Vidali, G.; Heskett, D.; Onellion, M. J. Phys. Cond. Matter 1995, 7, 7185-7194.
38. Caruso, A. N.; Bernard, L.; Xu, B.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 9620-9623. Lee, S.; Li, D.; Dowben, P. A.; Perkins, F. K.; Onellion, M.; Spencer, J. T. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 8444-8447. Zhang, J.; McIlroy, D. N.; Dowben, P. A.; Zeng, H.; Vidali, G.; Heskett, D.; Onellion, M. J. Phys. Cond. Matter 1995, 7, 7185-7194.
39. Hutchings, C. W.; Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Hwang, S.-D.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M.; Dowben, P. A. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94, 187-194. Hutchings, C. W.; Hwang, S.-D.; Dowben, P. A.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M. Phys. Low Dim. Struct. 1998, 1/2, 65-70. Hitchcock, A. P.; Urquhart, S. G.; Wen, A. T.; Kilcoyne, A. L. D.; Tyliszczak, T.; Riihl, E.; Kosugi, N.; Bozek, J. D.; Spencer, J. T.; McLlroy, D. N.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3483-3493. Byun, D.; Lee, S.; Hu, Yong-Feng; Bancroft, G. M.; Hwang, S.; Glass, J. A.; Zhang, J.; Spencer, J. T.; Ma J.; Dowben, P. A. Journ. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 69, 111-116. Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Lee, S.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8171-8181.
40. Hutchings, C. W.; Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Hwang, S.-D.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M.; Dowben, P. A. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94, 187-194. Hutchings, C. W.; Hwang, S.-D.; Dowben, P. A.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M. Phys. Low Dim. Struct. 1998, 1/2, 65-70. Hitchcock, A. P.; Urquhart, S. G.; Wen, A. T.; Kilcoyne, A. L. D.; Tyliszczak, T.; Riihl, E.; Kosugi, N.; Bozek, J. D.; Spencer, J. T.; McLlroy, D. N.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3483-3493. Byun, D.; Lee, S.; Hu, Yong-Feng; Bancroft, G. M.; Hwang, S.; Glass, J. A.; Zhang, J.; Spencer, J. T.; Ma J.; Dowben, P. A. Journ. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 69, 111-116. Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Lee, S.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8171-8181.
41. Hutchings, C. W.; Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Hwang, S.-D.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M.; Dowben, P. A. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94, 187-194. Hutchings, C. W.; Hwang, S.-D.; Dowben, P. A.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M. Phys. Low Dim. Struct. 1998, 1/2, 65-70. Hitchcock, A. P.; Urquhart, S. G.; Wen, A. T.; Kilcoyne, A. L. D.; Tyliszczak, T.; Riihl, E.; Kosugi, N.; Bozek, J. D.; Spencer, J. T.; McLlroy, D. N.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3483-3493. Byun, D.; Lee, S.; Hu, Yong-Feng; Bancroft, G. M.; Hwang, S.; Glass, J. A.; Zhang, J.; Spencer, J. T.; Ma J.; Dowben, P. A. Journ. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 69, 111-116. Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Lee, S.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8171-8181.
42. Hutchings, C. W.; Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Hwang, S.-D.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M.; Dowben, P. A. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94, 187-194. Hutchings, C. W.; Hwang, S.-D.; Dowben, P. A.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M. Phys. Low Dim. Struct. 1998, 1/2, 65-70. Hitchcock, A. P.; Urquhart, S. G.; Wen, A. T.; Kilcoyne, A. L. D.; Tyliszczak, T.; Riihl, E.; Kosugi, N.; Bozek, J. D.; Spencer, J. T.; McLlroy, D. N.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3483-3493. Byun, D.; Lee, S.; Hu, Yong-Feng; Bancroft, G. M.; Hwang, S.; Glass, J. A.; Zhang, J.; Spencer, J. T.; Ma J.; Dowben, P. A. Journ. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 69, 111-116. Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Lee, S.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8171-8181.
43. Hutchings, C. W.; Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Hwang, S.-D.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M.; Dowben, P. A. J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 94, 187-194. Hutchings, C. W.; Hwang, S.-D.; Dowben, P. A.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Hu, Y.-F.; Bancroft, G. M. Phys. Low Dim. Struct. 1998, 1/2, 65-70. Hitchcock, A. P.; Urquhart, S. G.; Wen, A. T.; Kilcoyne, A. L. D.; Tyliszczak, T.; Riihl, E.; Kosugi, N.; Bozek, J. D.; Spencer, J. T.; McLlroy, D. N.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3483-3493. Byun, D.; Lee, S.; Hu, Yong-Feng; Bancroft, G. M.; Hwang, S.; Glass, J. A.; Zhang, J.; Spencer, J. T.; Ma J.; Dowben, P. A. Journ. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 69, 111-116. Hitchcock, A. P.; Wen, A. T.; Lee, S.; Glass, J. A.; Spencer, J. T.; Dowben, P. A. J. Phys. Chem. 1993, 97, 8171-8181.
44. Xu, B.; Ovchenkov, Y.; Bai, M.; Caruso, A. N.; Sorokin, A. V.; Ducharme, S.; Doudin, B.; Dowben, P. A. Appl. Phvs. Lett. 2002, 81, 42814283.
45. Gao, W.; Kahn, A. J. Phys. Condens. Matter 2003, 75, S2757.
46. Gao, W.; Kahn, A. Org. Electron. 2002, 3, 53.
47. Adams, R. D.; Cotton, F. A. Inorg. Chem. 1974, 13, 249-253.
48. Day, V. W.; Day, R. O.; Kristoff, J. S.; Hirsekorn, F. J.; Muetterties, E. L. J. Am. Chem. Soc. 1975, 97, 2571-2573.