Kelvin probe study of band bending at organic semiconductor/metal interfaces: Examination of fermi level alignment

Physica Status Solidi (A) Applied Research

Volumn 201, Issue 6, 2004, Pages 1075-1094

  Ishii, H ^a   Hayashi, N ^b   Ito, E ^c   Washizu, Y ^b   Sugi, K ^a   Kimura, Y ^a   Niwano, M ^a   Ouchi, Y ^b   Seki, K ^b  

^a TOHOKU UNIVERSITY   (Japan)

^b NAGOYA UNIVERSITY   (Japan)

^c RIKEN   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DOPING (ADDITIVES); FERMI LEVEL; INTERFACES (MATERIALS); LIGHT EMITTING DIODES; SUBSTRATES; THICK FILMS; ULTRAHIGH VACUUM;

ENERGY DIAGRAMS; KELVIN PROBE METHOD (KPM);

SEMICONDUCTOR MATERIALS;

EID: 2942620527     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssa.200404346     Document Type: Article

References (52)

1. M. Pope and C. E. Swenberg, Electronic Processes in Organic Crystals and Polymers, 2nd ed. (Oxford University, Oxford, New York, 1999).
2. C. W. Tang and S. A. Van Slyke, Appl. Phys. Lett. 51, 913 (1987).
3. R. H. Friend, R. W. Gymer, A. B. Holmes, J. H. Burroughes, R. N. Marks, C. Taliani, D. D. C. Bradley, D. A. Dos Santos, J. L. Bŕedas, M. Lögdlund, and W. R. Salaneck, Nature 397, 121 (1999).
4. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mat. 14, 99 (2002).
5. D. Wöhrle and D. Meissner, Adv. Mater. 3, 129 (1991).
6. M. Grätzel, Nature 414, 338 (2001).
7. N. F. Mott, Proc. Camb. Philos. Soc. 34, 568 (1938).
8. W. Schottky, Phys. Z. 41, 570 (1940).
9. H. Ishii, K. Sugiyama, E. Ito, and K. Seki, Adv. Mater. 11, 605 (1999).
10. H. Ishii and K. Seki, in: Conjugated Polymer and Molecular Interfaces, edited by W. R. Salaneck, K. Seki, A. Kahn, and J.-J. Pireaux, (Marcel Dekker, New York, 2002).
11. R. Schlaf, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, G. Jabbour, B. Kippelen, N. Peyghambarian, and N. R. Armstrong, J. Appl. Phys. 84, 6729 (1998).
12. Y. Gao, Acc. Chem. Res. 32, 247 (1999).
13. I. G. Hill, A. Rajagopal, and A. Kahn, J. Appl. Phys. 84, 3236 (1998).
14. S. T. Lee, Y. M. Wang, X. Y. Hou, and C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 74, 670 (1999).
15. Q. T. Le, L. Yan, Y. Gao, M. G. Mason, D. J. Giesen, and C. W. Tang, J. Appl. Phys. 87, 375 (2000).
16. T. Kugler, M. Lögdlund, and W. R. Salaneck, Ace. Chem. Res. 32, 225 (1999).
17. Y. Harima, K. Takeda, and K. Yamashita, J. Phys. Chem. Sol. 56, 1223 (1995).
18. N. Sato and M. Yoshikawa, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 78, 387 (1996).
19. Y. Park, V. Choong, E. Ettedgui, Y. Gao, B. R. Hsieh, T. Wehrmeister, and K. Müllen, Appl. Phys. Lett. 69, 1080 (1996).
20. R. Schlaf, P. G. Schroeder, M. W. Nelson, B. A. Parkinson, C. D. Merritt, L. A. Crisafulli, H. Murata, and Z. H. Kafafi, Surf. Sci. 450, 142 (2000).
21. J. Blochwitz, T. Fritz, M. Pfeiffer, K. Leo, D. M. Alloway, P. A. Lee and N. R. Armstrong, Org. Electron. 2, 97 (2001).
22. W. Gao and A. Kahn, J. Phys.: Condens. Matter 15, S2757 (2003).
23. M. Pfeiffer, K. Leo, and N. Karl, J. Appl. Phys. 80, 6880 (1996).
24. M. Iwamoto, A. Fukuda, and E. Itoh, J. Appl. Phys. 75, 1607 (1994).
25. Y. Harima, K. Yamashita, H. Ishii, and K. Seki, Thin Solid Films 366, 237 (2000).
26. M. Hiramoto, K. Ihara, and M. Yokoyama, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 34, 3803 (1995).
27. E. Moons, A. Goossens, and T. Savenije, J. Phys. Chem. B 101, 8492 (1997).
28. N. Hayashi, H. Ishii, Y. Ouchi, and K. Seki, J. Appl. Phys. 92, 3784 (2002).
29. E. Ito, Y. Washizu, N. Hayashi, H. Ishii, N. Matsuie, K. Tsuboi, Y. Ouchi, Y. Harima, K. Yamashita, and K. Seki, J. Appl. Phys. 92, 7306 (2002).
30. M. Kotani and H. Akamatu, Bull. Chem. Soc. Jpn. 43, 30 (1970).
31. M. Kotani and H. Akamatu, Discuss. Faraday Soc. 51, 94 (1971).
32. N. Hayashi, E. Ito, H. Ishii, Y. Ouchi, and K. Seid, Synth. Met. 121, 1717 (2001).
33. L. Kronik and Y. Shapira, Surf. Sei. Rep. 37, 1 (1999).
34. Lord Kelvin, Philos. Mag. 46, 82 (1898).
35. W. A. Zisman, Rev. Sci. Instrum. 3, 367 (1932).
36. K. Seki, N. Hayashi, E. Ito, Y. Ouchi, and H. Ishii, submitted to Organic Electronics.
37. T. R. Ohno, Y. Chen, S. E. Harvey, G. H. Kroll, J. H. Weaver, R. E. Haulier, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 44, 13747 (1991).
38. P. A. Heiney, J. E. Fischer, A. R. McGhie, W. J. Romanow, A. M. Denenstein, J. P. McCauley, Jr., A. B. Smith III, and D. E. Cox, Phys. Rev. Lett. 66, 2911 (1991).
39. N. Sato, Y. Saito, and H. Shinohara, Chem. Phys. 162, 433 (1992).
40. P. J. Benning, D. M. Poirier, T. R. Ohno, Y. Chen, M. B. Jost, F. Stepniak, G. H. Kroll, J. H. Weaver, J. Pure, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 45, 6899 (1992).
41. H. Oji, E. Ito, M. Furuta, K. Kajikawa, H. Ishii, Y. Ouchi, and K. Seki, J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. 101-103, 517 (1999).
42. K. Sugiyama, D. Yoshimura, T. Miyamae, T. Miyazaki, H. Ishii, Y. Ouchi, and K. Seki, J. Appl. Phys. 83, 4928 (1998).
43. S. Egusa, private communication.
44. C. H. Marée, R. A. Weller, L. C. Feldman, K. Pakbaz, and H. W. H. Lee, J. Appl. Phys. 84, 4013 (1998).
45. A. Curioni, M. Boero, and W. Andreoni, Chem. Phys. Lett. 294, 263 (1998).
46. M. Brinkmann, G. Gadret, M. Muccini, C. Taliani, N. Masciocchi, and A. Sironi, J. Am. Chem. Soc. 122, 5147 (2000).
47. M. Colle, R. E. Dinnebier, and W. Bruiting, Chem. Commun. 23, 2908 (2002).
48. M. A. Baldo, Z. G. Soos, and S. R. Forrest, Chem. Phys. Lett. 347, 297 (2001).
49. K. Sugi, H. Ishii, Y. Kimura, M. Niwano, N. Hayashi, Y. Ouchi, E. Ito, and K. Seki, MRS Proceedings Volume 771, L7.9.1 (2003).
50. I. G. Hill, A. J. Makinen, and Z. H. Kafafi, Appl. Phys. Lett. 77, 1825(2000).
51. E. V. Tsiper, Z. G. Soos, W. Gao and A. Kahn, Chem. Phys. Lett. 360, 47 (2002).
52. H. Oji, E. Ito, M. Furuta, H. Ishii, Y. Ouchi, and K. Seki, Synth. Met. 121, 1721 (2001).