-
3
-
-
0034873221
-
-
(c) Katz, H. E.; Bao, Z.; Gilat, S. L. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 359-369.
-
(2001)
Acc. Chem. Res.
, vol.34
, pp. 359-369
-
-
Katz, H.E.1
Bao, Z.2
Gilat, S.L.3
-
4
-
-
0031382876
-
-
(a) Lin, Y. Y.; Gundlach, D. J.; Nelson, S. F.; Jackson, T. N. IEEE Electron Device Lett. 1997, 18, 606-608.
-
(1997)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.18
, pp. 606-608
-
-
Lin, Y.Y.1
Gundlach, D.J.2
Nelson, S.F.3
Jackson, T.N.4
-
5
-
-
0031207689
-
-
(b) Lin, Y. Y.; Gundlach, D. J.; Nelson, S. F.; Jackson, T. N. IEEE Trans. Electron Devices 1997, 45, 1325-1331.
-
(1997)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.45
, pp. 1325-1331
-
-
Lin, Y.Y.1
Gundlach, D.J.2
Nelson, S.F.3
Jackson, T.N.4
-
6
-
-
0037245896
-
-
(c) Knipp, D.; Street, R. A.; Völkel, A.; Ho, J. J. Appl. Phys. 2003, 93, 347-355.
-
(2003)
J. Appl. Phys.
, vol.93
, pp. 347-355
-
-
Knipp, D.1
Street, R.A.2
Völkel, A.3
Ho, J.4
-
7
-
-
7244254578
-
-
(d) Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Dehm, C.; Schütz, M.; Maisch, S.; Effenberger, F.; Brunnbauer, M.; Stellacci, F. Nature 2004, 431, 963-966.
-
(2004)
Nature
, vol.431
, pp. 963-966
-
-
Halik, M.1
Klauk, H.2
Zschieschang, U.3
Schmid, G.4
Dehm, C.5
Schütz, M.6
Maisch, S.7
Effenberger, F.8
Brunnbauer, M.9
Stellacci, F.10
-
8
-
-
2342639588
-
-
(e) Kobayashi, S.; Nishikawa, T.; Takenobu, T.; Mort, S.; Shimoda, T.; Mitani, T.; Shimotani, H.; Yoshimoto, N.; Ogawa, S.; Iwasa, Y. Nat. Mater. 2004, 3, 317-322.
-
(2004)
Nat. Mater.
, vol.3
, pp. 317-322
-
-
Kobayashi, S.1
Nishikawa, T.2
Takenobu, T.3
Mort, S.4
Shimoda, T.5
Mitani, T.6
Shimotani, H.7
Yoshimoto, N.8
Ogawa, S.9
Iwasa, Y.10
-
9
-
-
9644302981
-
-
(a) Moon, H.; Zeis, R.; Borkent, E.-J.; Besnard, C.; Lovtnger, A. J.; Siegrist, T.; Kloc, C.; Bao, Z. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 15322-15323.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 15322-15323
-
-
Moon, H.1
Zeis, R.2
Borkent, E.-J.3
Besnard, C.4
Lovtnger, A.J.5
Siegrist, T.6
Kloc, C.7
Bao, Z.8
-
10
-
-
1642329909
-
-
(b) Ong, B. S.; Wu, Y.; Liu, P.; Gardner, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 3378-3379.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 3378-3379
-
-
Ong, B.S.1
Wu, Y.2
Liu, P.3
Gardner, S.4
-
11
-
-
0037706969
-
-
(c) Kobayashi, S.; Takenobu, T.; Mort, S.; Fujiwara, A.; Iwasa, Y. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 4581-4583.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 4581-4583
-
-
Kobayashi, S.1
Takenobu, T.2
Mort, S.3
Fujiwara, A.4
Iwasa, Y.5
-
12
-
-
0041883373
-
-
(d) Chesterfield, R. J.; Newman, C. R.; Pappenfus, T. M.; Ewbank, P. C.; Haukaas, M. H.; Mann, K. R.; Miller, L. L.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1278-1282.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 1278-1282
-
-
Chesterfield, R.J.1
Newman, C.R.2
Pappenfus, T.M.3
Ewbank, P.C.4
Haukaas, M.H.5
Mann, K.R.6
Miller, L.L.7
Frisbie, C.D.8
-
13
-
-
0037415118
-
-
(e) Facchetti, A.; Mushrush, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2003, 15, 33-38.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 33-38
-
-
Facchetti, A.1
Mushrush, M.2
Katz, H.E.3
Marks, T.J.4
-
14
-
-
1942489279
-
-
(f) Takimiya, K.; Kunugi, Y.; Konda, Y.; Nithara, N.; Otsubo, T. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5084-5085.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 5084-5085
-
-
Takimiya, K.1
Kunugi, Y.2
Konda, Y.3
Nithara, N.4
Otsubo, T.5
-
15
-
-
3042811341
-
-
(g) Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138-8140.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 8138-8140
-
-
Sakamoto, Y.1
Suzuki, T.2
Kobayashi, M.3
Gao, Y.4
Fukai, Y.5
Inoue, Y.6
Sato, F.7
Tokito, S.8
-
16
-
-
33747670667
-
-
(h) Haddon, R. C.; Perel, A. S.; Morris, R. C.; Palstra, T. T. M.; Hebard, A. F. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 121-123.
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 121-123
-
-
Haddon, R.C.1
Perel, A.S.2
Morris, R.C.3
Palstra, T.T.M.4
Hebard, A.F.5
-
17
-
-
1642340172
-
-
(a) Ohta, H.; Kambayashi, T.; Nomura, K.; Hirano, M.; Ishikawa, K.; Takezoe, H.; Hosono, H. Adv. Mater. 2004, 16, 312-316.
-
(2004)
Adv. Mater.
, vol.16
, pp. 312-316
-
-
Ohta, H.1
Kambayashi, T.2
Nomura, K.3
Hirano, M.4
Ishikawa, K.5
Takezoe, H.6
Hosono, H.7
-
18
-
-
0141459882
-
-
(b) Xiao, K.; Liu, Y.; Huang, X.; Xu, Y.; Yu, G.; Zhu, D. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 9226-9230.
-
(2003)
J. Phys. Chem. B
, vol.107
, pp. 9226-9230
-
-
Xiao, K.1
Liu, Y.2
Huang, X.3
Xu, Y.4
Yu, G.5
Zhu, D.6
-
19
-
-
0038137039
-
-
(c) Noh, Y.-Y.; Kim, J.-J.; Yoshida, Y.; Yase, K. Adv. Mater. 2003, 15, 699-702.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 699-702
-
-
Noh, Y.-Y.1
Kim, J.-J.2
Yoshida, Y.3
Yase, K.4
-
20
-
-
0028433605
-
-
(d) Pearson, C.; Moore, A. J.; Gibson, J. E.; Bryce, M. R.; Petty, M. C. Thin Solid Films 1994, 244, 932-935.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.244
, pp. 932-935
-
-
Pearson, C.1
Moore, A.J.2
Gibson, J.E.3
Bryce, M.R.4
Petty, M.C.5
-
21
-
-
0037448715
-
-
(e) Caseri, W. R.; Chanzy, H. D.; Feldman, K.; Fontana, M.; Smith, P.; Tervoort, T. A.; Goossens, J. G. P.; Meijer, E. W.; Schenning, A. P. H. J.; Dolbnya, I. P.; Debije, M. G.; de Haas, M. P.; Warman, J. M.; van de Craats, A. M.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H.; Stutzmann, N. Adv. Mater. 2003, 15, 125-129.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 125-129
-
-
Caseri, W.R.1
Chanzy, H.D.2
Feldman, K.3
Fontana, M.4
Smith, P.5
Tervoort, T.A.6
Goossens, J.G.P.7
Meijer, E.W.8
Schenning, A.P.H.J.9
Dolbnya, I.P.10
Debije, M.G.11
De Haas, M.P.12
Warman, J.M.13
Van De Craats, A.M.14
Friend, R.H.15
Sirringhaus, H.16
Stutzmann, N.17
-
22
-
-
0030871184
-
-
(f) Bao, Z.; Lovinger, A. J.; Dodabalapur, A. Adv. Mater. 1997, 9, 42-44.
-
(1997)
Adv. Mater.
, vol.9
, pp. 42-44
-
-
Bao, Z.1
Lovinger, A.J.2
Dodabalapur, A.3
-
23
-
-
0037113014
-
-
(g) Hoshino, S.; Kamata, T.; Yase, K. J. Appl. Phys. 2002, 92, 6028-6032.
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.92
, pp. 6028-6032
-
-
Hoshino, S.1
Kamata, T.2
Yase, K.3
-
24
-
-
44949291495
-
-
(h) Guillaud, G.; Sadoun, M. A.; Maitrot, M.; Simon, J.; Bouvet, M. Chem. Phys. Lett. 1990, 167, 503-506.
-
(1990)
Chem. Phys. Lett.
, vol.167
, pp. 503-506
-
-
Guillaud, G.1
Sadoun, M.A.2
Maitrot, M.3
Simon, J.4
Bouvet, M.5
-
25
-
-
0032275078
-
-
(i) Guillaud, G.; Simon, J.; Germain, J. P. Coord. Chem. Rev. 1998, 178-180, 1433-1484.
-
(1998)
Coord. Chem. Rev.
, vol.178-180
, pp. 1433-1484
-
-
Guillaud, G.1
Simon, J.2
Germain, J.P.3
-
26
-
-
0001336395
-
-
(j) Tada, H.; Touda, H.; Takada, M.; Matsushige, K. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 873-875.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.76
, pp. 873-875
-
-
Tada, H.1
Touda, H.2
Takada, M.3
Matsushige, K.4
-
27
-
-
0001226546
-
-
(k) Guillaud, G.; Chaabane, B.; Jouve, C.; Gamoudi, M. Thin Solid Films 1995, 258, 279-282.
-
(1995)
Thin Solid Films
, vol.258
, pp. 279-282
-
-
Guillaud, G.1
Chaabane, B.2
Jouve, C.3
Gamoudi, M.4
-
29
-
-
0033303309
-
-
(b) Mederos, A.; Domínguez, S.; Hernández-Mokina, R.; Sanchiz, J.; Brito, F. Coord. Chem. Rev. 1999, 193-195, 913-939.
-
(1999)
Coord. Chem. Rev.
, vol.193-195
, pp. 913-939
-
-
Mederos, A.1
Domínguez, S.2
Hernández-Mokina, R.3
Sanchiz, J.4
Brito, F.5
-
30
-
-
0042233761
-
-
Herebian, D.; Wieghardt, K. H.; Neese, F. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 10997-11005.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 10997-11005
-
-
Herebian, D.1
Wieghardt, K.H.2
Neese, F.3
-
31
-
-
32744473824
-
-
note
-
On the surface, another grain with a flakelike shape was formed. However, the film is so thick (50-100 nm) that the flakelike grains scarcely affect the TFT character.
-
-
-
-
33
-
-
0002662629
-
-
Umemura, J.; Kamata, T.; Kawai, T.; Takenaka, T. J. Phys. Chem. 1990, 94, 62-67.
-
(1990)
J. Phys. Chem.
, vol.94
, pp. 62-67
-
-
Umemura, J.1
Kamata, T.2
Kawai, T.3
Takenaka, T.4
-
35
-
-
33748604799
-
-
(b) Chang, H.-C.; Ishii, T.; Kondo, M.; Kitagawa, S. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1999, 2467-2476.
-
(1999)
J. Chem. Soc., Dalton Trans.
, pp. 2467-2476
-
-
Chang, H.-C.1
Ishii, T.2
Kondo, M.3
Kitagawa, S.4
-
36
-
-
0042304207
-
-
(c) Herebian, D.; Bothe, E.; Neese, F.; Weyhermüller, T.; Wieghardt, K. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 9116-9128.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 9116-9128
-
-
Herebian, D.1
Bothe, E.2
Neese, F.3
Weyhermüller, T.4
Wieghardt, K.5
|