Electron holography, a versatile tool for characterization of materials: Fluoroapatite-gelatine-composites, SiC and SiO2

Zeitschrift fur Anorganische und Allgemeine Chemie

Volumn 631, Issue 6-7, 2005, Pages 983-992

  Simon, Paul ^a   Lichte, Hannes ^b   Mönter, Damian ^c   Reschetilowski, Wladimir ^c   Valera, Anibal ^d   Carrillo Cabrera, Wilder ^a  

^a MAX PLANCK INSTITUTE FOR CHEMICAL PHYSICS OF SOLIDS   (Germany)

^b Institut für Strukturphysik der Technischen Universität

^c Technischen Universität Lima   (Peru)

^d UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERÍA   (Nicaragua)

Author keywords

Biominerals; Electron holography; Fluoroapatite gelatine composites; Mesoporous silica; Silicon carbide

Indexed keywords

CRYSTALLIN; FLUORAPATITE; GELATIN; SILICON DERIVATIVE; SILICON DIOXIDE;

ARTICLE; BIOMINERALIZATION; CHEMICAL COMPOSITION; CHEMICAL STRUCTURE; DENSITY; ELECTRIC FIELD; ELECTRON; HOLOGRAPHY; MAGNETIC FIELD; MEASUREMENT; POROSITY;

EID: 18844446431     PISSN: 00442313     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/zaac.200400560     Document Type: Article

References (23)

1. R. Kniep, S. Busch, Angew. Chem. 1996, 108, 2788;
2. Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1996, 35, 2624.
3. S. Busch, H. Dolhaine, A. DuChesne, S. Heinz, O. Hochrein, F. Lacri, O. Podebrad, U. Vietze, T. Weiland, R. Kniep, Eur. J. Inorg. Chem. 1999, 10, 1643.
4. S. Busch, U. Schwarz, R. Kniep, Chem. Mater. 2001, 13, 3260.
5. S. Busch, U. Schwarz, R. Kniep, Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 189.
6. R. Kniep, in Facetten einer Wissenschaft, Eds.: A. Müller, H.-J. Quadbeck-Seeger, E. Diemann, Wiley-VCH, Weinheim, 2004, 221.
7. C. A. Volkert, S. Busch, B. Heiland, G. Dehm, J. Microscopy 2004, 214, 208.
8. P. Simon, W. Carrillo-Cabrera, P. Formanek, C. Göbel, D. Geiger, R. Ramlau, H. Tlatlik, J. Buder, R. Kniep J. Mater. Chem. 2004, 14, 2218.
9. E. Völkl, L. F. Allard, D. C. Joy, Introduction to Electron Holography, Kluwer Academic Plenum Publishers, New York 1999.
10. P. A. Midgley, Micron 2000, 32, 167.
11. H. Lichte, M. Lehmann in Advances in Imaging and Electron Physics, Elsevier Science (USA), 2002, 123, 225.
12. H. Lichte, Philos. T. Roy. Soc. A 2002, 360, 897.
13. M. Lehmann, H. Lichte, Microsc. Microanal. 2002, 8, 447.
14. P. Simon, R. Huhle, M. Lehmann, H. Lichte, D. Mönter, T. Bieber, W. Reschetilowski, R. Adhikari, G. H. Michler, Chem. Mater. 2002, 14, 1505.
15. P. Simon, H. Lichte, J. Drechsel, P. Formanek, A. Graff, R. Wahl, M. Mertig, R. Adhikari, H. G. Michler, Adv. Mater. 2003, 15, 1475.
16. G. Cocorullo, F. G. DellaCorte, I. Rendina, C. Minarini, A. Rubino, E. Terzini Opt. Lett. 1996, 21, 2002.
17. J. A. Kalomiros, A. Papadopoulos, S. Logothetidis, L. Magafas, N. Georgoulas, A. Thanailakis, Phys. Rev. B 1994, 49, 8191.
18. M. Kildemo, Thin Solid Films 2004, 455-56, 187.
19. P. G. Soukiassian, H. B. Enriquez, J. Phys. - Cond. Matter 2004, 16 (17), S1611.
20. A. Itoh, H. Matsunami, Crit. Rev. Sol. State Mater. Sci. 1997, 22 (2), 111.
21. E. Monroy, F. Omnes, F. Calle, Semicond. Sci. Techn. 2003, 18 (4), R33.
22. J. S. Beck, J. C. Vartuli, W. J. Roth, M. E. Leonowicz, C. T. Kresge, K. D. Schmitt, C. T. W. Chu, D. H. Olson, E. W. Sheppard, S. B. McCullen, J. B. Higgins, J. L. Schlenker, J. Am. Chem. Soc. 1992, 14, 10834.
23. J. C. Vartuli, S. S. Shih, C. T. Kresge, J. S. Beck, Studies Surf. Sci. Cat. 1998, 117, 13.