Piezoresponse force microscopy of lead titanate nanograins possibly reaching the limit of ferroelectricity

Applied Physics Letters

Volumn 81, Issue 27, 2002, Pages 5231-5233

  Roelofs, A ^a   Schneller, T ^a   Szot, K ^b   Waser, R ^b  

^a RWTH AACHEN UNIVERSITY   (Germany)

^b FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FERROELECTRICITY; GRAIN SIZE AND SHAPE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; POLARIZATION; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

PIEZORESPONSE FORCE MICROSCOPY (PFM);

LEAD COMPOUNDS;

EID: 0348087028     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1534412     Document Type: Article

References (26)

1. W. L. Zhong, Y. G. Wang, P. L. Zhang, and B. D. Qu, Phys. Rev. B 50, 698 (1994); C. L. Wang and S. P. Smith, J. Phys.: Condens. Matter 7, 7163 (1995); S. Li, J. A. Eastman, J. M. Vetrone, C. M. Foster, R. E. Newnham, and L. E. Cross, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 36, 5169 (1997).
2. W. L. Zhong, Y. G. Wang, P. L. Zhang, and B. D. Qu, Phys. Rev. B 50, 698 (1994); C. L. Wang and S. P. Smith, J. Phys.: Condens. Matter 7, 7163 (1995); S. Li, J. A. Eastman, J. M. Vetrone, C. M. Foster, R. E. Newnham, and L. E. Cross, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 36, 5169 (1997).
3. W. L. Zhong, Y. G. Wang, P. L. Zhang, and B. D. Qu, Phys. Rev. B 50, 698 (1994); C. L. Wang and S. P. Smith, J. Phys.: Condens. Matter 7, 7163 (1995); S. Li, J. A. Eastman, J. M. Vetrone, C. M. Foster, R. E. Newnham, and L. E. Cross, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 36, 5169 (1997).
4. B. Jiang, J. L. Peng, W. L. Zhong, and L. A. Bursill, J. Appl. Phys. 87, 3462 (2000); W. L. Zhong, B. Jiang, P. L. Zhang, J. M. Ma, H. M. Cheng, and Z. H. Yang, J. Phys.: Condens. Matter 5, 2619 (1993); K. Ishikawa, K. Ishikawa, T. Nomura, N. Okada, and K. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 5196 (1996); S. Chattopadhaya, P. Ayyub, V. R. Palkar, and M. Multani, Phys. Rev. B 52, 13177 (1995).
5. B. Jiang, J. L. Peng, W. L. Zhong, and L. A. Bursill, J. Appl. Phys. 87, 3462 (2000); W. L. Zhong, B. Jiang, P. L. Zhang, J. M. Ma, H. M. Cheng, and Z. H. Yang, J. Phys.: Condens. Matter 5, 2619 (1993); K. Ishikawa, K. Ishikawa, T. Nomura, N. Okada, and K. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 5196 (1996); S. Chattopadhaya, P. Ayyub, V. R. Palkar, and M. Multani, Phys. Rev. B 52, 13177 (1995).
6. B. Jiang, J. L. Peng, W. L. Zhong, and L. A. Bursill, J. Appl. Phys. 87, 3462 (2000); W. L. Zhong, B. Jiang, P. L. Zhang, J. M. Ma, H. M. Cheng, and Z. H. Yang, J. Phys.: Condens. Matter 5, 2619 (1993); K. Ishikawa, K. Ishikawa, T. Nomura, N. Okada, and K. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 5196 (1996); S. Chattopadhaya, P. Ayyub, V. R. Palkar, and M. Multani, Phys. Rev. B 52, 13177 (1995).
7. B. Jiang, J. L. Peng, W. L. Zhong, and L. A. Bursill, J. Appl. Phys. 87, 3462 (2000); W. L. Zhong, B. Jiang, P. L. Zhang, J. M. Ma, H. M. Cheng, and Z. H. Yang, J. Phys.: Condens. Matter 5, 2619 (1993); K. Ishikawa, K. Ishikawa, T. Nomura, N. Okada, and K. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 5196 (1996); S. Chattopadhaya, P. Ayyub, V. R. Palkar, and M. Multani, Phys. Rev. B 52, 13177 (1995).
8. Y. G. Wang, W. L. Zhong, and P. L. Zhang, Phys. Rev. B 51, 17235 (1995).
9. C. S. Ganpule, A. Stanishevsky, S. Aggarwall, J. Melengailis, E. Williams, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 75, 3874 (1999).
10. Alexe, C. Harnagea, W. Erfurth, D. Hesse, and U. Goesele, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 70, 247 (2000).
11. D. Bolten, M. Hoffmann, U. Hasenkox, O. Lohse, and R. Waser, Ferroelectrics 225, 117 (1999).
12. L. M. Eng, H. J. Güntherodt, G. A. Schneider, U. Köpke, and J. Muñoz Saldaña, Appl. Phys. Lett. 74, 233 (1999).
13. A. Roelofs, F. Schlaphof, S. Trogisch, U. Böttger, R. Waser, and L. M. Eng, Appl. Phys. Lett. 77, 3444 (2000).
14. A. Roelofs, N. A. Pertsev, R. Waser, F. Schlaphof, L. M. Eng, C. Ganpule, V. Nagarajan, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 80, 1424 (2002).
15. R. Nouwen, J. Mullens, D. Franco, J. Yperman, and L. C. Van Poucke, Vib. Spectrosc. 10, 291 (1996).
16. D. J. Wouters, G. J. Norga, and H. E. Maes, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 541, 381 (1999).
17. G. Binnig and H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55, 726 (1982).
18. K. Franke, J. Besold, W. Haessler, and C. Seegebarth, Surf. Sci. Lett. 302, L283 (1994); T. Hidaka, T. Maruyama, I. Sakai, M. Saitoh, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, J. Amano, and C. M. Foster, Integr. Ferroelectr. 17, 319 (1997); O. Auciello, A. Gruverman, H. Tokumoto, A. S. Prakash, S. Aggarwal, and R. Ramesh, MRS Bull. 23, 33 (1998); M. Abplanalp, L. M. Eng, and P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S231 (1998).
19. K. Franke, J. Besold, W. Haessler, and C. Seegebarth, Surf. Sci. Lett. 302, L283 (1994); T. Hidaka, T. Maruyama, I. Sakai, M. Saitoh, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, J. Amano, and C. M. Foster, Integr. Ferroelectr. 17, 319 (1997); O. Auciello, A. Gruverman, H. Tokumoto, A. S. Prakash, S. Aggarwal, and R. Ramesh, MRS Bull. 23, 33 (1998); M. Abplanalp, L. M. Eng, and P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S231 (1998).
20. K. Franke, J. Besold, W. Haessler, and C. Seegebarth, Surf. Sci. Lett. 302, L283 (1994); T. Hidaka, T. Maruyama, I. Sakai, M. Saitoh, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, J. Amano, and C. M. Foster, Integr. Ferroelectr. 17, 319 (1997); O. Auciello, A. Gruverman, H. Tokumoto, A. S. Prakash, S. Aggarwal, and R. Ramesh, MRS Bull. 23, 33 (1998); M. Abplanalp, L. M. Eng, and P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S231 (1998).
21. K. Franke, J. Besold, W. Haessler, and C. Seegebarth, Surf. Sci. Lett. 302, L283 (1994); T. Hidaka, T. Maruyama, I. Sakai, M. Saitoh, L. A. Wills, R. Hiskes, S. A. Dicarolis, J. Amano, and C. M. Foster, Integr. Ferroelectr. 17, 319 (1997); O. Auciello, A. Gruverman, H. Tokumoto, A. S. Prakash, S. Aggarwal, and R. Ramesh, MRS Bull. 23, 33 (1998); M. Abplanalp, L. M. Eng, and P. Günter, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S231 (1998).
22. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Annu. Rev. Mater. Sci. 28, 101 (1998); A. Gruverman, A. Kholkin, A. Kingon, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett. 78, 2751 (2001).
23. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Annu. Rev. Mater. Sci. 28, 101 (1998); A. Gruverman, A. Kholkin, A. Kingon, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett. 78, 2751 (2001).
24. C. S. Ganpule, V. Nagarajan, H. Li, A. S. Ogale, D. E. Steinhauer, S. Aggarwall, E. Williams, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 77, 292 (2000).
25. T. Tybell, C. H. Ahn, and J. M. Triscone, Appl. Phys. Lett. 75, 856 (1999).
26. M. E. Lines and A. M. Glass, Principles and Applications of Ferroelectrics and Related Materials (Oxford University Press, Oxford, 1977).