Nanoscale Data Recording on an Organic Monolayer Film

Advanced Materials

Volumn 15, Issue 22, 2003, Pages 1925-1929

  Wu, Huimeng ^a   Song, Yanlin ^a   Du, Shixuan ^b   Liu, Hongwen ^b   Gao, Hongjun ^b   Jiang, Lei ^a   Zhu, Daoben ^a  

^a INSTITUTE OF CHEMISTRY   (China)

^b INSTITUTE OF PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMINES; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; DATA RECORDING; DEFECTS; ELECTRIC FIELD EFFECTS; ELECTRONS; SYNTHESIS (CHEMICAL); THIN FILMS;

ELECTRON DONORS; NANOSCALE DATA RECORDING;

MONOLAYERS;

EID: 0347591071     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.200305144     Document Type: Article

References (31)

1. E. Betzig, J. K. Trautman, R. Wolfe, E. M. Gyorgy, P. L. Finn, M. H. Kryder, C.-H. Chang, Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 142.
2. H. Kado, T. Tohda, Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 2961.
3. H. J. Mamin, B. D. Terris, L. S. Fan, S. Hoen, R. C. Barret, D. Rugar, IBM J. Res. Dev. 1995, 39, 681.
4. B. D. Terris, H. J. Mamin, M. E. Best, J. A. Logan, D. Rugar, S. A. Rishton. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 4262.
5. G. L. Christenson, S. A. Miller, Z. H. Zhu, N. C. MacDonald, Y. H. Lo. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 2780.
6. I. Fujiwara, S. Kojima, J. Seto. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, 2764.
7. G. Binnig, M. Despont, U. Drechsler, W. Haberle, M. Lutwyche, P. Vettiger, H. J. Mamin, B. W. Chui, T. W. Kenny, Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 1329.
8. M. Cavallini, F. Biscarini, S. Leo'n, F. Zerbetto, G. Bottari, D. A. Leigh, Science 2003, 299, 531.
9. A. Sato, Y. Tsukamoto, Nature 1993, 363, 431.
10. D. M. Eigler, E. K. Schweizer, Nature 1990, 344, 524.
11. G. Dujardin, A. Mayne, O. Robert, F. Rose, C. Joachim, H. Tang, Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 3085.
12. T. Nishimura, M. Iyoki, S. Sadayama, Ultmmicroscopy 2002, 91, 103.
13. R. Bennewitz, J. N. Crain, A. Kirakosian, J.-L. Lin, J. L. McChesney, D. Y. Petrovykh, F. J. Himpsel, Nanotechnology 2002, 13, 499.
14. O. Kahn, J. Martinez, Science 1998, 279, 44.
15. R. S. Potember, T. O. Poehler, D. O Cowan, Appl. Phys. Lett. 1979, 34, 405.
16. R. S. Potember, R. C. Hoffman, T. O. Poehler, Johns Hopkins APL Tech. Dig. 1986, 7, 129.
17. J. Gong, Y. Osada, Appl. Phys. Lett. 1992, 61, 2787.
18. L. P. Ma, Y. L. Song, H. J. Gao, W. B. Zhao, H. Y. Chen, Z. Q. Xue, S. J. Pang, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3752.
19. H. J. Gao, K. Sohlberg, Z. Q. Xue, H. Y. Chen, S. M. Hou, L. P. Ma, X. W. Fang, S. J. Pang, S. J. Pennycook, Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 1780.
20. J. C. Li, Z. O. Xue, W. M. Liu, S. M. Hou, X. L. Li, X. Y. Zhao, Phys. Lett. A 2000, 266, 441.
21. D. X. Shi, Y. L. Song, H. X. Zhang, S. J. Pang, S. T. He, S. S. Xie, H. J. Gao, Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3203.
22. Y. L. Song, L. P. Ma, S. S. Xie, S. J. Pang, L. Jiang, D. B. Zhu, Mater. Sci. Eng. B 2000, 76, 79.
23. D. X. Shi, Y. L. Song, D. B. Zhu, H. X. Zhang, S. S. Xie, S. J. Pang, H. J. Gao, Adv. Mater. 2001, 13, 1103.
24. L. P. Ma, W. J. Yang, Z. Q. Xue, S. J. Pang, Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 850.
25. 3, T = 293 K, Z = 4. Diffraction data were collected with a Siemens P4 four-circle diffractometer using graphite-monochromated Mo Kα radiation (λ = 0.7103 Å).
26. S. M. Hou, X. Y. Zhao, C. Yang, Z. Q. Xue, H. Y. Chen. J. Vac. Sci. Technol. B 1999, 17, 2467.
27. H. A. Staab, C. P. Herz, C. Krieger, M. Rentea, Chem. Ber. 1983, 116, 3813.
28. H. Oerhoeven, M. N. Paddon-Row, M. Heppener, A. M. Oliver, E. Cotsanies, J. W. Verhoeven, N. S. Hush, J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3258.
29. A. D. Becke, Phys. Rev. A 1988, 38, 3098.
30. C. Lee, W. Yang, R. G. Parr, Phys. Rev. B 1988, 37, 785.
31. W. J. Hehre, L. Radom, P. Schleyer, R. Von, J. A. Pople, Ab Initio Molecular Orbit Theory, Wiley, New York 1986.