Kelvin probe force microscopy for the nano scale characterization of chalcopyrite solar cell materials and devices

Thin Solid Films

Volumn 431-432, Issue , 2003, Pages 257-261

  Sadewasser, S ^a   Glatzel, Th ^a   Schuler, S ^a   Nishiwaki, S ^a   Kaigawa, R ^a   Lux Steiner, M Ch ^a  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

Author keywords

Atomic force microscopy; Interfaces; Solar cells; Surfaces

Indexed keywords

ABSORPTION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; GRAIN BOUNDARIES; NANOSTRUCTURED MATERIALS; SOLAR CELLS; SURFACE TOPOGRAPHY; TRANSPORT PROPERTIES; ULTRAHIGH VACUUM;

KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY (KPFM);

THIN FILMS;

EID: 0038018529     PISSN: 00406090     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0040-6090(03)00267-0     Document Type: Conference Paper

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