Early growth stages of sputter deposited Ag on native SiO2

Surface Science

Volumn 537, Issue 1-3, 2003, Pages 153-160

  Banerjee, S ^a   Kundu, S ^a  

^a SAHA INSTITUTE OF NUCLEAR PHYSICS   (India)

Author keywords

Atomic force microscopy; Growth; Sputtering; X ray scattering, diffraction, and reflection

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; FILM GROWTH; SILICA; SPUTTER DEPOSITION; SUBSTRATES; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS; X RAY SCATTERING;

MOUND SIZE;

ULTRATHIN FILMS;

EID: 0037562652     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(03)00612-5     Document Type: Article

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