X-ray-reflectivity study of Ge-Si-Ge films

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 54, Issue 23, 1996, Pages 16377-16380

  Banerjee, S ^a   Sanyal, M ^a   Datta, A ^a   Kanakaraju, S ^b   Mohan, S ^b  

^a SAHA INSTITUTE OF NUCLEAR PHYSICS   (India)

^b INDIAN INSTITUTE OF SCIENCE   (India)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001402411     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.16377     Document Type: Article

References (24)

1. H. Presting, H. Kibbel, M. Jaros, R. M. Turton, U. Menczigar, G. Abstreiter and H. G. Grimmeiss, Semicond. Sci. Technol. 7, 1127 (1992).
2. M. Lyakas, T. Arazi, M. Eizenberg, V. Demuth, H. P. Strunk, N. Mosleh, F. Meyer and C. Schwebel, J. Appl. Phys. 78, 4975 (1995).
3. M. K. Sanyal, S. K. Sinha, A. Gibaud, K. G. Huang, B. L. Carvalho, M. Rafailovich, J. Sokolov, X. Zhao and W. Zhao, Europhys. Lett. 21, 691 (1993).
4. S. K. Sinha, E. B. Sirota, S. Garoff and H. B. Stanley, Phys. Rev. B 38, 2297 (1988).
5. X. L. Zhou and S. H. Chen, Phys. Rev. E 47, 3174 (1993).
6. J. P. Schlomka, M. Tolan, L. Schwalowsky, O. H. Seeck, J. Stettner and W. Press, Phys. Rev. B 51, 2311 (1995);J. P. Schlomka, M. R. Fitzsimmons, R. Pynn, J. Stettner, M. Tolan, O. H. Seeck, and W. Press, Physica B 221, 44 (1996).
7. J. M. Baribeau, J. Appl. Phys. 74, 3805 (1993).
8. M. K. Sanyal, S. K. Sinha, K. G. Huang and B. M. Ocko, Phys. Rev. Lett. 66, 628 (1991).
9. S. K. Sinha, M. K. Sanyal, S. K. Satija, C. F. Majkrzak, D. A. Neumann, H. Homma, S. Szpala, A. Gibaud and H. Morkoc, Physica B 198, 72 (1994).
10. D. K. G. de Boer and A. J. G. Leenaers, Physica B 221, 18 (1996).
11. M. K. Sanyal, J. Basu, A. Datta, and S. Banerjee, Europhys. Lett. (to be published).
12. L.G. Parrat, Phys. Rev 95, 359 (1954).
13. K. Nakagawa and M. Miyao, J. Appl. Phys. 69, 3058 (1991), M. Karimi, T. Kaplan, M. Mostoller and D. E. Jesson, Phys. Rev. B 47, 9931 (1993).
14. S. S. Iyer, J. C. Tsang, M. W. Copel, P. R. Pukite and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 54, 219 (1989).
15. K. Eberl, G. Krötz, R. Zachai, and G. Abstreiter, J. Phys. (Paris) Colloq. 5, C-329 (1987).
16. N. Ikarashi, A. Oshiyama, A. Sakai and T. Tatsumi, Phys. Rev. B 51, 14t786 (1995).
17. N. Ikarashi, K. Akimoto, T. Tatsumi and K. Ishida, Phys. Rev. Lett. 72, 3198 (1994).
18. P. C. Zalm, G. F. A. van de Walle, D. J. Gravesteijn, and A. A. van Gorkum, Appl. Phys. Lett. 55, 2520 (1989).
19. M. Li, Q. Cui, S. F. Cui, L. Zhang, J. M. Zhou and Z. H. Mai, J. Appl. Phys. 78, 1681 (1995).
20. S. C. Moss and J. F. Graczyk, Phys. Rev. Lett. 23, 1167 (1969).
21. T. M. Donovan, W. E. Spicer and J. M. Bennett, Phys. Rev. Lett. 22, 1058 (1969).
22. Z. H. Ming, Y. L. Soo, S. Huang, Y. H. Kao, J. C. Tsang and S. S. Iyer, Appl. Phys. Lett. 65, 1382 (1994).
23. S. Froyen and A. Zunger, Phys. Rev. B 53, 4570 (1996).
24. Z. H. Ming, S. Huang, Y. L. Soo, Y. H. Kao, T. Carns and K. L. Wang, Appl. Phys. Lett. 67, 629 (1995).