-
1
-
-
0030865462
-
-
Campbell, S. A.; Gilmer, D. C.; Wang, X.-C.; Hsieh, M.-T.; Kim, H.-S.; Gladfelter, W. L.; Yan, J. IEEE Trans. Electron Devices 1997, 44, 104.
-
(1997)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.44
, pp. 104
-
-
Campbell, S.A.1
Gilmer, D.C.2
Wang, X.-C.3
Hsieh, M.-T.4
Kim, H.-S.5
Gladfelter, W.L.6
Yan, J.7
-
2
-
-
0029521873
-
-
Jones, R. E., Jr.; Zurcher, P.; Chu, P.; Taylor, D. J.; Lii, Y. T.; Jiang, B.; Maniar, P. D.; Gillespie, S. J. Microelectron. Eng. 1995, 29, 3.
-
(1995)
Microelectron. Eng.
, vol.29
, pp. 3
-
-
Jones R.E., Jr.1
Zurcher, P.2
Chu, P.3
Taylor, D.J.4
Lii, Y.T.5
Jiang, B.6
Maniar, P.D.7
Gillespie, S.J.8
-
4
-
-
0029378704
-
-
Cava, R. F.; Peck, W. F.; Jr.; Krajewski, J. J. Nature (London) 1995, 377, 215.
-
(1995)
Nature (London)
, vol.377
, pp. 215
-
-
Cava, R.F.1
Peck W.F., Jr.2
Krajewski, J.J.3
-
5
-
-
0004029677
-
-
VCH Verlagsgesellschaft mbH and VCH Publishers: Weinheim, Germany, and New York
-
Rees, W. S. Jr., Ed. CVD of Nonmetals; VCH Verlagsgesellschaft mbH and VCH Publishers: Weinheim, Germany, and New York, 1996,
-
(1996)
CVD of Nonmetals
-
-
Rees W.S., Jr.1
-
8
-
-
36549102771
-
-
Scott, J. F.; Kammerdiner, L.; Parris, M.; Traynor, S.; Ottenbacher, V.; Shawabkeh, A.; Oliver. W. F. J. Appl. Phys. 1988, 64, 787.
-
(1988)
J. Appl. Phys.
, vol.64
, pp. 787
-
-
Scott, J.F.1
Kammerdiner, L.2
Parris, M.3
Traynor, S.4
Ottenbacher, V.5
Shawabkeh, A.6
Oliver, W.F.7
-
9
-
-
0027668451
-
-
Horikawa, H.; Mikami, N.; Makita, T.; Tanimura, J.; Kataoka, M.; Sato, K.; Nunoshita, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1993, 32, 4126.
-
(1993)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.32
, pp. 4126
-
-
Horikawa, H.1
Mikami, N.2
Makita, T.3
Tanimura, J.4
Kataoka, M.5
Sato, K.6
Nunoshita, M.7
-
10
-
-
0031274337
-
-
Kang, C. S.; Cho, H. J.; Lee, B. T.; Lee, K. H. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, 6946.
-
(1997)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.36
, pp. 6946
-
-
Kang, C.S.1
Cho, H.J.2
Lee, B.T.3
Lee, K.H.4
-
11
-
-
0028436634
-
-
Akhtar, M. K.; Pratsinis, S. E.; Mastrangelo, S. V. R. J. Mater. Res. 1994, 9, 1241.
-
(1994)
J. Mater. Res.
, vol.9
, pp. 1241
-
-
Akhtar, M.K.1
Pratsinis, S.E.2
Mastrangelo, S.V.R.3
-
13
-
-
0013086204
-
-
Takahashi, Y.; Tsuda, K.; Sugiyama, K.; Minoura, H.; Makino, D.; Tsuiki, M. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1981, 77, 1051.
-
(1981)
J. Chem. Soc., Faraday Trans.
, vol.77
, pp. 1051
-
-
Takahashi, Y.1
Tsuda, K.2
Sugiyama, K.3
Minoura, H.4
Makino, D.5
Tsuiki, M.6
-
15
-
-
0242632985
-
-
Jpn. Patent 11255784
-
Sato, Y. Jpn. Patent 11255784.
-
-
-
Sato, Y.1
-
16
-
-
0033469430
-
-
Lee, J.-H.; Kim, J.-Y.; Shim, J.-Y.; Rhee, S.-W. J. Vac. Sci. Technol., A 1999, 17, 3033.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.17
, pp. 3033
-
-
Lee, J.-H.1
Kim, J.-Y.2
Shim, J.-Y.3
Rhee, S.-W.4
-
17
-
-
0032594223
-
-
Lee, J.-H.; Kim, J.-Y.; Rhee, S.-W. Electrochem. Solid-State Lett. 1999, 2, 507.
-
(1999)
Electrochem. Solid-State Lett.
, vol.2
, pp. 507
-
-
Lee, J.-H.1
Kim, J.-Y.2
Rhee, S.-W.3
-
18
-
-
0000628076
-
-
Gao, Y.; Perkins, C. L.; He, S.; Alluri, P.; Tran, T.; Thevuthasan, S.; Henderson, M. A. J. Appl. Phys. 2000, 87, 7430.
-
(2000)
J. Appl. Phys.
, vol.87
, pp. 7430
-
-
Gao, Y.1
Perkins, C.L.2
He, S.3
Alluri, P.4
Tran, T.5
Thevuthasan, S.6
Henderson, M.A.7
-
19
-
-
0032131410
-
-
Kiyotoshi, M.; Eguchi, K.; Imai, K.; Arikado, T. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, 4487.
-
(1998)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.37
, pp. 4487
-
-
Kiyotoshi, M.1
Eguchi, K.2
Imai, K.3
Arikado, T.4
-
20
-
-
0001336142
-
-
Jones, A. C.; Leedham, T. J.; Wright, P. J.; Crosbie, M. J.; Fleeting, K. A.; Otway, D. J.; O'Brien, P.; Pemble, M. E. J. Mater. Chem. 1998, 8, 1773.
-
(1998)
J. Mater. Chem.
, vol.8
, pp. 1773
-
-
Jones, A.C.1
Leedham, T.J.2
Wright, P.J.3
Crosbie, M.J.4
Fleeting, K.A.5
Otway, D.J.6
O'Brien, P.7
Pemble, M.E.8
-
25
-
-
0035190090
-
-
Chen, T.-Y.; Vaissermann, J.; Ruiz, E.; Senateur, J. P.; Doppelt, P. Chem. Mater. 2001, 13, 3993.
-
(2001)
Chem. Mater.
, vol.13
, pp. 3993
-
-
Chen, T.-Y.1
Vaissermann, J.2
Ruiz, E.3
Senateur, J.P.4
Doppelt, P.5
-
26
-
-
0242632984
-
-
JCPDS-International Center for Diffraction Data. File No. 21-1272, 1995
-
JCPDS-International Center for Diffraction Data. File No. 21-1272, 1995.
-
-
-
|