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Volumn 78, Issue 17, 2001, Pages 2431-2433

Optimization of elastomeric phase masks for near-field photolithography

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EID: 0035938332     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1367898     Document Type: Article
Times cited : (27)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.