Determination of the orbital lineup at reactive organic semiconductor interfaces using photoemission spectroscopy

Journal of Applied Physics

Volumn 90, Issue 4, 2001, Pages 1903-1910

  Schlaf, R ^a   Merritt, C D ^b   Picciolo, L C ^b   Kafafi, Z H ^b  

^a University of South Florida   (United States)

^b NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035881847     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1375016     Document Type: Article

References (28)

1. J. Burtis, Photonics Spectra, October, 2000, pp. 145.
2. H. Ishii and K. Seki, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1295 (1997).
3. H. Ishii, K. Sugiyama, E. Ito, and K. Seki, Adv. Mater. 11, 605 (1999).
4. I. G. Hill, A. Rajagopal, A. Kahn, and Y. Hu, Appl. Phys. Lett. 73, 662 (1998).
5. I. G. Hill, A. J. Mäkinen, and Z. H. Kafafi, J. Appl. Phys. 88, 889 (2000).
6. V.-E. Choong, M. G. Mason, C. W. Tang, and Y. Gao, Appl. Phys. Lett. 72, 2689 (1998).
7. Q. T. Le, L. Yan, Y. Gao, M. G. Mason, D. J. Giesen, and C. W. Tang, J. Appl. Phys. 87, 375 (2000).
8. R. Schlaf, P. G. Schroeder, M. W. Nelson, B. A. Parkinson, C. D. Merritt, L. A. Crisafulli, H. Murata, and Z. H. Kafafi, Surf. Sci. 450, 142 (2000).
9. R. Schlaf, L. A. Crisafulli, H. Murata, C. D. Merritt, Z. H. Kafafi, P. G. Schroeder, M. W. Nelson, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, and N. R. Armstrong, Proc. SPIE 3797, 189 (1999).
10. R. Schlaf, C. D. Merritt, L. A. Crisafulli, and Z. H. Kafafi, J. Appl. Phys. 86, 5678 (1999).
11. R. Schlaf, P. G. Schroeder, M. W. Nelson, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, and N. R. Armstrong, J. Appl. Phys. 86, 1499 (1999).
12. K. Horn. Appl. Phys. A: Solids Surf. 51, 289 (1990).
13. J. R. Waldrop and R. W. Grant, Phys. Rev. Lett. 43, 1686 (1979).
14. R. Schlaf, O. Lang, C. Pettenkofer, W. Jaegermann, and N. R. Armstrong, J. Vac. Sci. Technol. A 15, 1365 (1997).
15. R. Schlaf, O. Lang, C. Pettenkofer, and W. Jaegermann, J. Appl. Phys. 85, 2732 (1999).
16. J. H. Scofield, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 8, 129 (1976).
17. F. E. Lytle, D. R. Storey, and M. E. Juricich, Spectrochim. Acta, Part A 29, 1357 (1973).
18. H. M. Stevens, Anal. Chim. Acta 20, 389 (1959).
19. M. P. Seah, Surf. Interface Anal. 14, 488 (1989).
20. I. Kojima and M. Kurahashi, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 42, 177 (1987).
21. H. Kroemer, in Molecular Beam Epitaxy and Heterostructures, edited by L. L. Chang and K. Ploog (Martinus Nijhoff, Dordrecht, 1985).
22. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, and K. D. Bomben, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy (Physical Electronics, Inc., Eden Prairie, MN, 1995).
23. R. Q. Zhang, X. Y. Hou, and S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 74, 1612 (1999).
24. A. Curioni, W. Andreoni, R. Treusch, F. J. Himpsel, E. Haskal, P. Seidler, C. Heske, S. Kakar, T van Buuren, and L. J. Terminello, Appl. Phys. Lett. 72, 1575 (1998).
25. R. Q. Zhang, C. S. Lee, and S. T. Lee, J. Chem. Phys. 112, 8614 (2000).
26. W. M. Riggs and M. J. Parker, in Methods of Surface Analysis, edited by A. W. Czanderna (Elsevier, Amsterdam, 1975), pp. 103-158.
27. R. Schlaf, B. A. Parkinson, P. A. Lee, K. W. Nebesny, and N. R. Armstrong, J. Phys. Chem. 103, 2984 (1999).
28. X. Li, Z. Zhang, and V. E. Heinrich, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 63, 253 (1993).