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Volumn 63, Issue 24, 2001, Pages 2453221-2453227

Vacancy-related deep levels in n-type Si1-xGex strained layers

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GERMANIUM; PHOSPHORUS; SILICON;

EID: 0034894727     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.