Noncontact AFM imaging on Al-adsorbed Si(111) surface with an empty orbital

Applied Surface Science

Volumn 157, Issue 4, 2000, Pages 239-243

  Sugawara, Yasuhiro ^a   Orisaka, Shigeki ^a   Morita, Seizo ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

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ADSORPTION; ALUMINUM; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMICAL BONDS; IMAGING TECHNIQUES;

NONCONTACT ATOMIC FORCE MICROSCOPY;

SILICON;

EID: 0033742199     PISSN: 01694332     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0169-4332(99)00533-4     Document Type: Article

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