Shear force and phase imaging of protein boundaries

Langmuir

Volumn 15, Issue 17, 1999, Pages 5433-5435

  Sanders, Giles H W ^a   Davies, Martyn C ^a   Roberts, Clive J ^a   Tendler, Saul J B ^a   Williams, Philip M ^a  

^a UNIVERSITY OF NOTTINGHAM   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOUNDARY LAYERS; FEEDBACK; FIBER OPTICS; IMAGE PROCESSING; OPTICAL MICROSCOPY; PHASE SHIFT; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY;

NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY; PHASE IMAGING; PROTEIN BOUNDARY; SCANNING PROBE MICROSCOPE; SHEAR FORCE;

PROTEINS;

EID: 0032598472     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la981621x     Document Type: Article

References (29)

1. Tamayo, J.; García, R. Langmuir 1996, 12, 4430-4435.
2. Magonov, S. N.; Elings, V.; Whangbo, M.-H. Surf. Sci. Lett. 1997, 374, L385-L391.
3. Betzig, E.; Finn, P. L.; Weiner, J. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2484-2486.
4. Kirsh, A. K.; Meyer, C. K.; Jovin, T. M. J. Microsc. (Oxford) 1997, 185 (3), 396-401.
5. Pohl, D. W.; Denk, W.; Lanz, M. Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651-653.
6. Haydon, P. G.; Marchese Ragona, S. P.; Basarsky, T. A.; Szulczewski, M.; McCloskey, M. J. Microsc. (Oxford) 1996, 182 (3), 208-216.
7. Enderle, T.; Ha, T.; Ogletree, D. F.; Chemla, D. S.; Magowan, C.; Weiss, S. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1997, 94 (2), 520-525.
8. Gheber, L. A.; Hwang, J.; Edidin, M. Appl. Opt. 1998, 37 (16), 3574-3581.
9. Garcia Parajo, M. F.; Veerman, J. A.; Ruiter, A. G. T.; van Hulst, N. F. Ultramicroscopy 1998, 71 (1-4), 311-319.
10. Higgins, D. A.; Kerimo, J.; Vandenbout, D. A.; Barbara, P. F. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118 (17), 4049-4058.
11. Rucker, M.; DeSchryver, F. C.; Vanoppen, P.; Jeuris, K.; DeFeyter, S.; Hotta, J.; Masuhara, H. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 1997, 131 (1-4), 30-37.
12. Hallen, H. D.; Larosa, A. H.; Jahncke, C. L. Phys. Status Solidi A 1995, 152 (1), 257-268.
13. Xu, Q.; Gray, M. H.; Hsu, J. W. P. J. Appl. Phys. 1997, 82 (2), 748-755.
14. Jalocha, A.; Moers, M. H. P.; Ruiter, A. G. T.; van Hulst, N. F. Ultramicroscopy 1995, 61, 221-226.
15. Lieberman, K.; Lewis, A.Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 1335-1337.
16. Volgunov, D. G.; Gaponov, S. V.; Dryakhlushin, V. F.; Klimov, A. Y.; Lukyanov, A. Y.; Mironov, V. L.; Panfilov, A. I.; Petrukhin, A. A.; Revin, D. G.; Rogov, V. V. Instruments and Experimental Techniques 1998, 41, 269-274.
17. Kramer, A.; Hartmann, T.; Stadler, S. M.; Guckenberger, R. Ultramicroscopy 1995, 61, 191-195.
18. Cline, J. A.; Barshatzky, H.; Isaacson, M. Ultramicroscopy 1991, 38, 299-304.
19. Bar, G.; Thomann, Y.; Brandsch, R.; Cantow, H. J.; Whangbo, M. H. Langmuir 1997, 13, 3807-3812.
20. Cleveland, K. B.; Anczykowski, B.; Schmid, A. E.; Elings, V. B. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 2613-2615.
21. Noy, A.; Sanders, C. H.; Vezenov, D. V.; Wong, S. S.; Lieber, C. M. Langmuir 1998, 14, 1508-1510.
22. Durkan, C.; Shvets, I. V. J. Appl. Phys. 1996, 80, 5659-5664.
23. Bereton, L. Personal communication.
24. Karrai, K.; Grober, R. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1842-1844.
25. Delamarche, E.; Bernard, A.; Schmid, H.; Michel, B.; Biebuyck H. Science 1997, 276 (5313), 779-781.
26. Delamarche, E.; Bernard, A.; Schmid, H.; Bietsch, A.; Michel B.; Biebuyck, H. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120 (3), 500-508.
27. Patel, N.; Padera, R.; Sanders, G. H. W.; Canizarro S.; Davies, M. C.; Langer, R.; Roberts, C. J.; Tendler, S. J. B.; Williams P. M.; Shakesheff, K. M. FASEB J. 1998, 12 (14), 1447-1454.
28. Ruiter, A. G. T.; vanderWerf, K. O.; Veerman, J. A.; Garcia Parajo, M. F.; Rensen, W. H. J.; vanHulst, N. F. Ultramicroscopy 1998, 71, 149-157.
29. Ruiter, A. G. T.; Veerman, J. A.; vanderWerf, K. O.; vanHulst, N. F. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 28-30.