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Volumn 76, Issue 21, 2000, Pages 3109-3111

The role of interface states in hydrogen-annealing-induced mobile proton generation at the Si-SiO2 interface

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EID: 0012777815     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.126539     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.