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Volumn 72, Issue 18, 1998, Pages 2289-2291

Native point defects in Si with a CoSi2 film: Single crystal versus polycrystalline

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EID: 0009748027     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121275     Document Type: Article
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References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.