메뉴 건너뛰기




Volumn 68, Issue 12, 1996, Pages 1687-1689

Point defects in Si after formation of a TiSi2 film: Evidence for vacancy supersaturation and interstitial depletion

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0012980012     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.115906     Document Type: Article
Times cited : (15)

References (17)
  • 11
    • 22244453853 scopus 로고    scopus 로고
    • M. R. Pinto, D. M. Boulin, C. S. Rafferty, R. K. Smith, W. M. Coughran, Jr., I. C. Kizilyalli, and M. J. Thoma, Proc. IEDM 92, 923 (1992)
    • M. R. Pinto, D. M. Boulin, C. S. Rafferty, R. K. Smith, W. M. Coughran, Jr., I. C. Kizilyalli, and M. J. Thoma, Proc. IEDM 92, 923 (1992).


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.