Direct measurement of strain in a Ge island on Si(001)

Applied Physics Letters

Volumn 75, Issue 1, 1999, Pages 46-48

  Miller, Peter D ^a   Liu, Chuan Pu ^a   Henstrom, William L ^a   Gibson, J Murray ^a   Huang, Y ^a   Zhang, P ^a   Kamins, T I ^b   Basile, D P ^b   Williams, R Stanley ^b  

^a University of Illinois at Urbana Champaign   (United States)

^b HEWLETT PACKARD LABORATORIES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0003313658     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.124272     Document Type: Article

References (16)

1. D. J. Eaglesham and M. Cerullo, Phys. Rev. Lett. 64, 1943 (1990).
2. Y.-W. Mo, D. E. Savage, B. S. Swartzentruber, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 65, 1020 (1990).
3. T. I. Kamins, G. Medeiros-Ribeiro, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Williams, J. Appl. Phys. 85, 1159 (1999).
4. L. B. Freund, ZAMP 46, S185 (1995).
5. G. Medeiros-Ribiero, A. M. Bratkovski, T. I. Kamins, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Williams, Science 279, 353 (1998).
6. J. A. Floro, E. Chason, R. D. Twesten, R. Q. Hwang, and L. B. Freund, Phys. Rev. Lett. 79, 3946 (1997).
7. M. F. Ashby and L. M. Brown, Philos. Mag. 8, 1083 (1963).
8. O. V. Kolosov, M. R. Castell, C. D. Marsh, G. A. D. Briggs, T. I. Kamins, and R. S. Williams, Phys. Rev. Lett. 81, 1046 (1998).
9. P. Hirsch, A. Howie, R. Nicholson, D. W. Pashley, and M. W. Whelan, Electron Microscopy of Thin Crystals (Butterworths, London, 1967).
10. S. M. Allen, Philos. Mag. A 43, 325 (1981).
11. Y. Androussi, A. Lefebvre, B. Courboules, N. Grandjean, J. Massies, T. Bouhacina, and J. P. Aimé, Appl. Phys. Lett. 65, 1162 (1994).
12. T. Benabbas, P. François, Y. Androussi, and A. Lefevbre, J. Appl. Phys. 80, 2763 (1996).
13. G. Wedler, J. Walz, T. Hesjedal, E. Chilla, and R. Koch, Phys. Rev. Lett. 80, 2382 (1998).
14. A. J. Steinfort, P. M. L. O. Scholte, A. Ettema, F. Tuinstra, M. Nielsen, E. Landemark, D.-M. Smilgies, R. Feidenhand'l, G. Falkenberg, L. Seehofer, and R. L. Johnson, Phys. Rev. Lett. 77, 2009 (1996).
15. S. Christiansen, M. Albrecht, H. P. Strunk, and H. J. Maier, Appl. Phys. Lett. 64, 3617 (1994).
16. D. Cherns, A. Hovsepian, and W. Jäger, J. Electron Microsc. 47, 211 (1998).