Scanning tunneling microscopy identification of atomic-scale intermixing on Si(100) at submonolayer Ge coverages

Physical Review Letters

Volumn 84, Issue 20, 2000, Pages 4645-4648

  Qin, X R ^a   Swartzentruber, B S ^b   Lagally, M G ^a  

^a UNIVERSITY OF WISCONSIN MADISON   (United States)

^b SANDIA NATIONAL LABORATORIES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001525517     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.84.4645     Document Type: Article

References (28)

1. F. Liu, F. Wu, and M. G. Lagally, Chem. Rev., 97, 1045, (1997).
2. R. M. Tromp, Phys. Rev. B, 47, 7125, (1993).
3. J. E. Rowe, and G. K. Wertheim, Phys. Rev. Lett., 69, 550, (1992).
4. L. Patthey, E. L. Bullock, T. Abukawa, S. Kono, and L. S. O. Johansson, Phys. Rev. Lett., 75, 2538, (1995).
5. K. H. Huang, T. S. Ku, and D. S. Lin, Phys. Rev. B, 56, 4878, (1997).
6. X. Y. Zhu, and Young Hee Lee, Phys. Rev. B, 59, 9764, (1999).
7. H. W. Yeom, M. Sasaki, S. Suzuki, S. Sato, S. Hosoi, M. Iwabuchi, K. Higashiyama, H. Fukutani, M. Nakamura, T. Abukawa, and S. Kono, Surf. Sci., 381, L533, (1997).
8. A. J. Hoeven, J. Aarts, and P. K. Larsen, J. Vac. Sci. Technol. A, 7, 5, (1989).
9. M. Copel, M. C. Reuter, M. Horn von Hoegen, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B, 42, 11 682, (1990).
10. U. Köhler, O. Jusko, B. Muller, M. Horn von Hoegen, and M. Pook, Ultramicroscopy, 42–44, 832, (1992).
11. R. Gunnella, P. Castrucci, N. Pinto, I. Davoli, D. Sebilleau, and M. De Crescenzi, Phys. Rev. B, 54, 8882, (1996).
12. J. A. Kubby, J. E. Griffith, R. S. Becker, and J. S. Vickers, Phys. Rev. B, 36, 6079, (1987).
13. J. J. Boland, Phys. Rev. Lett., 67, 1539, (1991).
14. J. Pollmann, P. Kruger, and A. Mazur, J. Vac. Sci. Technol. B, 5, 945, (1987).
15. X. R. Qin, and M. G. Lagally, Phys. Rev. B, 59, 7293, (1999).
16. X. R. Qin, F. Liu, B. S. Swartzentruber, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett., 81, 2288, (1998).
17. Z. Y. Zhang, H. Chen, B. C. Bolding, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett., 71, 3677, (1993).
18. R. J. Hamers, and U. K. Köhler, J. Vac. Sci. Technol. A, 7, 2854, (1989).
19. T. Komura, T. Yao, and M. Yoshimura, Phys. Rev. B, 56, 3579, (1997).
20. X. R. Qin, and M. G. Lagally (unpublished).
21. F. Iwawaki, H. Kato, M. Tomitori, and O. Nishikawa, Ultramicroscopy, 42–44, 895, (1992).
22. M. Chander, Y. Z. Li, J. C. Patrin, and J. H. Weaver, Phys. Rev. B, 48, 2493, (1993).
23. R. J. Hamers, U. K. Köhler, and J. E. Demuth, J. Vac. Sci. Technol. A, 8, 195, (1990).
24. E. Fontes, J. R. Patel, and F. Comin, Phys. Rev. Lett., 70, 2790, (1993).
25. S. Tang, and A. J. Freeman, Phys. Rev. B, 50, 10 941, (1994).
26. J.-H. Cho, S. Jeong, and M.-H. Kang, Phys. Rev. B, 50, 17 139, (1994).
27. X. Chen, D. K. Saldin, E. L. Bullock, L. Patthey, L. S. O. Johansson, J. Tani, T. Avukawa, and S. Kono, Phys. Rev. B, 55, R7319, (1997).
28. A. M. Bouchard, G. C. Osbourn, and B. S. Swartzentruber, Surf. Sci., 321, 276, (1994).