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Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 61, Issue 23, 2000, Pages 16006-16014

Interface formation studied by high-resolution Ge and Si core-level spectroscopy

(6) Larciprete, R a De Padova, P a Quaresima, C a Ottaviani, C a Perfetti, P a Peloi, M a

a Universita del S Cuore (Italy)

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EID: 0000912019 PISSN: 10980121 EISSN: 1550235X Source Type: Journal
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.16006 Document Type: Article

Times cited : (9)

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