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Volumn 87, Issue 4, 2000, Pages 2046-2051

Low temperature oxidation of SiGe in ozone: Ultrathin oxides

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EID: 0000869663     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.372134     Document Type: Article
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References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.