Size effects of 0.8SrBi2Ta2O9-0.2Bi3TiNbO 9 thin films

Journal of Applied Physics

Volumn 83, Issue 3, 1998, Pages 1610-1612

  Zhu, Jinsong ^a   Zhang, Xubai ^a   Zhu, Yongfei ^a   Desu, S B ^a  

^a VIRGINIA POLYTECHNIC INSTITUTE AND STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000060838     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.366872     Document Type: Article

References (24)

1. A. Jaccard, W. Kanzig, and M. Peter, Helv. Phys. Acta 26, 521 (1953).
2. M. Anliker, H. R. Brugger, and W. Kanzig, Helv. Phys. Acta 27, 99 (1954).
3. J. F. Scott and A. Arroyo, Science 246, 1400 (1989).
4. M. Sayer and K. Sreenivas, Science 247, 1056 (1990).
5. M. H. Francombe and S. V. Krishnaswamy, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 1382 (1990).
6. S. B. Desu, C. H. Peng, L. Kamnerdiana, and P. J. Schncle, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 200, 319 (1990).
7. K. R. Udayakumar, P. J. Schuele, J. Chen, S. B. Krupanidhi, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 77, 3981 (1995).
8. M. De Keijser, G. J. M. M. Dormans, J. Van Veldhover, and De Leeuvw, Appl. Phys. Lett. 59, 3556 (1991).
9. X. M. Lu, J. S. Zhu, W. Y. Zhang, and Y. N. Wang, Thin Solid Films 274, 165 (1996).
10. J. S. Zhu, X. M. Lu, W. Jiang, W. Tian, M. Zhu, and Y. N. Wang, J. Appl. Phys. 81, 1392 (1997).
11. D. M. Tahan, A. Safari, and L. C. Klein, J. Am. Ceram. Soc. 79, 1594 (1996).
12. Y. Sakashita, H. Segawa, K. Tominaga, and M. Okada, J. Appl. Phys. 73, 7857 (1993).
13. A. Gilteson, A. M. Lere, and S. V. Orlov, Sov. Phys. Solid State 9, 1121 (1977).
14. P. K. Larsen, G. J. M. Dormans, D. J. Taylor, and J. Van Veldhover, J. Appl. Phys. 76, 2405 (1994).
15. J. F. M. Cillessen, M. W. Jprins, and R. M. Wolf, J. Appl. Phys. 81, 2777 (1997).
16. J. W. Jang and S. J. Chung, J. Appl. Phys. 81, 6322 (1997).
17. H. D. Chen, K. K. Li, C. J. Gaskey, and L. E. Cross, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 433, 325 (1996).
18. S. T. Mckinstry, C. A. Randall, J. P. Maria, C. Theis, D. G. Schlom, J. Shepard, Jr., and K. Yamakawa, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 433, 363 (1996).
19. S. B. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen, and Y. N. Wang, Phys. Rev. B 54, R14 337 (1996); 55, 3485 (1997).
20. S. B. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen, and Y. N. Wang, Phys. Rev. B 54, R14 337 (1996); 55, 3485 (1997).
21. X. B. Zhang, P. Z. Gu, and S. B. Desu, Phys. Status Solidi A 160, 35 (1997); S. B. Desu, P. C. Joshi, X. B. Zhang, and S. O. Ryu, Appl. Phys. Lett. 71, 1041 (1997).
22. X. B. Zhang, P. Z. Gu, and S. B. Desu, Phys. Status Solidi A 160, 35 (1997); S. B. Desu, P. C. Joshi, X. B. Zhang, and S. O. Ryu, Appl. Phys. Lett. 71, 1041 (1997).
23. M. Nagata, D. P. Vijay, X. B. Zhang, and S. B. Desu, Phys. Status Solidi A 157, 75 (1996).
24. S. Hayashi, K. Arita, Y. Shimada, E. Fujii, T. Otsuki, and C. A. Paz de Araujo, Ultrathin (<70 nm) Layered Pervskite for Megabit - Scale Fe-RAMs in 1.5 V Regime, Presented on Nineth International Symposium on Integrated Ferroelectric Santa Fe, New Mexico, USA 2-5 March 1997 (unpublished).