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Volumn 58, Issue 12, 1998, Pages 7906-7912

Influence of the exchange reaction on the electronic structure of GaN/Al junctions

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EID: 0000648172     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.7906     Document Type: Article
Times cited : (12)

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    • Appl. Phys. Lett.Zhifang Fan et. al 68, 1672 (1996).
    • (1996) Appl. Phys. Lett. , vol.68 , pp. 1672


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.