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Volumn 84, Issue 5, 2000, Pages 935-938

New structural model for Si/SiO2 interfaces derived from spherosiloxane clusters: Implications for si 2p photoemission spectroscopy

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EID: 0000543105     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.84.935     Document Type: Article
Times cited : (32)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.