메뉴 건너뛰기




Volumn 76, Issue 4, 2000, Pages 436-438

Structure and stability of ultrathin zirconium oxide layers on Si(001)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000020022     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125779     Document Type: Article
Times cited : (696)

References (13)
  • 5
    • 0001158030 scopus 로고    scopus 로고
    • H. S. Kim, D. C. Gilmer, S. A. Camphell, and D. L. Polla, Appl. Phys. Lett. 69, 3860 (1996); S. A. Campbell, D. C. Gilmer, C. W. Xiao, T. H. Ming, S. K. Hyeon, W. L. Gladfelter, and Y. Jinhua, IEEE Trans. Electron Devices 44, 104 (1997).
    • (1996) Appl. Phys. Lett. , vol.69 , pp. 3860
    • Kim, H.S.1    Gilmer, D.C.2    Camphell, S.A.3    Polla, D.L.4


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.