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Volumn 61, Issue 12, 2000, Pages 8393-8403

Dissociation kinetics of hydrogen-passivated defects at the interface

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EID: 0000019521     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.8393     Document Type: Article
Times cited : (127)

References (52)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.