메뉴 건너뛰기




Volumn 54, Issue 16, 1996, Pages R11129-R11132

Thermally induced interface degradation in (111) Si/S traced by electron spin resonance

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0000303921     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.R11129     Document Type: Article
Times cited : (63)

References (25)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.