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Volumn 1, Issue , 2001, Pages 477-482

Effects of stress on formation of silicides on silicon-on-insulator wafers

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EID: 84966648391     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ICSICT.2001.981522     Document Type: Conference Paper
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References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.