Liquid/solid interfaces studied by ambient pressure HAXPES

Springer Series in Surface Sciences

Volumn 59, Issue , 2016, Pages 447-466

  Liu, Z ^a,b,c   Bluhm, H ^a  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b SHANGHAI INSTITUTE OF MICROSYSTEM AND INFORMATION TECHNOLOGY   (China)

^c SHANGHAITECH UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 84952331678     PISSN: 09315195     EISSN: None     Source Type: Book Series    
DOI: 10.1007/978-3-319-24043-5_17     Document Type: Chapter

References (51)

1. F. Zaera, Surf. Sci. 605, 1141 (2011).
2. A. Gross, K. Wandelt, Surf. Sci. 631, 1 (2014).
3. O. M. Magnussen, Chem. Rev. 102, 679 (2002).
4. F. Ohnesorge, G. Binnig, Science 260, 1451 (1993).
5. J. Kubota, Z. Ma, F. Zaera, Langmuir 19, 3371 (2003).
6. Y. R. Shen, PNAS 93, 12104 (1996).
7. F. M. Geiger, Annu. Rev. Phys. Chem. 60, 61 (2009).
8. V. R. Stamenković, M. Arenz, C. A. Lucas, M. E. Gallagher, P. N. Ross, N. M. Marković, J. Am. Chem. Soc. 125, 2736 (2003).
9. J.-J. Velasco-Velez, C. H. Wu, T. A. Pascal, L. F. Wan, J. Guo, D. Prendergast, M. Salmeron, Science 346, 831 (2014).
10. M. J. Bedzyk, D. Bilderback, J. White, H. D. Abruna, G. M. Bommarito, J. Phys. Chem. 90, 4926 (1986).
11. F. Zaera, Chem. Rev. 112, 2920 (2012).
12. D. E. Starr, Z. Liu, M. Haevecker, A. Knop-Gericke, H. Bluhm, Chem. Soc. Rev. 42, 5833 (2013).
13. M. Salmeron, R. Schlögl, Surf. Sci. Rep. 63, 169 (2008).
14. H. Siegbahn, K. Siegbahn, J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 2, 319 (1973).
15. H. Siegbarn, L. Asplund, P. Kelfve, K. Hamrin, L. Karlsson, K. Siegbahn, J. Electron Spectrosc. Rel. Phenom. 5, 1059 (1974).
16. A. Shavorskiy, O. Karslioglu, I. Zegkinoglou, H. Bluhm, Synchrotron Radiat. News 27, 14 (2014).
17. J. Zegenhagen et al., in Photoelectron Emission Excited by a Hard X-ray Standing Wave this Book, ed. by J. Woicik. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer, Berlin, 2015).
18. D. Emfietzoglou, H. Nikjoo, Rad. Res. 167, 110 (2007).
19. J. J. Yeh, I. Lindau, At. Data Nucl. Data Tables 32, 1 (1985).
20. W. Smekal, W. S. M. Werner, C. J. Powell, Surf. Interface Anal. 37, 1059 (2005).
21. W. S. M. Werner, Surf. Interface Anal. 31, 141 (2001).
22. C. J. Powell et al., in Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, Information Depths, and Effective Attenuation Lengths for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy, ed. by J. Woicik. Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer, Berlin, 2015).
23. Y. R. Shen, J. Opt. Soc. Am. B 28, A56 (2011).
24. J. A. McGuire, Y. R. Shen, Science 313, 1945 (2006).
25. W.-T. Liu, Y. R. Shen, PNAS 111, 1293 (2014).
26. K. B. Eisenthal, Chem. Rev. 96, 1343 (1996).
27. S. Ong, X. Zhao, K. B. Eisenthal, Chem. Phys. Lett. 191, 327 (1992).
28. S. Axnanda, E. J. Crumlin, B. Mao, S. Rani, R. Chang, P. G. Karlsson, M. O. M. Edwards, M. Lundqvist, R. Moberg, P. N. Ross, Z. Husssain, Z. Liu, Sci. Rep. 5, 9788 (2015).
29. H. Matsuda, H. Daimon, M. Kato, M. Kudo, Phys. Rev. E 71, 066503 (2005).
30. G. Ketteler, S. Yamamoto, H. Bluhm, K. Andersson, D. E. Starr, D. F. Ogletree, H. Ogasawara, A. Nilsson, M. Salmeron, J. Phys. Chem. C 111, 8278 (2007).
31. K. Arima, P. Jiang, X. Deng, H. Bluhm, M. Salmeron, J. Phys. Chem. C 114, 14900 (2010).
32. S. Nemšák, A. Shavorskiy, O. Karslioglu, I. Zegkinoglou, P. K. Greene, E. C. Burks, K. Liu, A. Rattanachata, C. S. Conlon, A. Keqi, F. Salmassi, E. M. Gullikson, S.-H. Yang, H. Bluhm, C. S. Fadley, Nat. Comm. 5, 5441 (2014).
33. M. Faubel, B. Steiner, J. P. Toennies, J. Chem. Phys. 106, 9013 (1997).
34. M. A. Brown, N. Duychkaerts, A. Beloqui Redondo, I. Jordan, F. Nolting, A. Kleibert, M. Ammann, H. J. Wörner, J. A. van Bokhoven, Z. Abbas, Langmuir 29, 5023 (2013).
35. I. Jordan, A. Beloqui Redondo, M. A. Brown, D. Fodor, M. Staniuk, A. Kleibert, H. J. Wörner, J. B. Giorgi, J. A. van Bokhoven, Chem. Comm. 50, 4242 (2014).
36. M. A. Brown, A. Beloqui Redondo, M. Sterrer, B. Winter, G. Pacchioni, Z. Abbas, J. A. van Bokhoven, Nanoletters 13, 5403 (2013).
37. T. Masuda, H. Yoshikawa, H. Noguchi, T. Kawasaki, M. Kobata, K. Kobayashi, K. Uosaki, Appl. Phys. Lett. 103, 111605 (2013).
38. Y. Takagi, H. Wang, Y. Uemura, E. Ikenaga, O. Sekizawa, T. Uruga, H. Ohashi, Y. Senba, H. Yumoto, H. Yamazaki, S. Goto, M. Tada, Y. Iwasawa, T. Yokoyama, Appl. Phys. Lett. 105, 131602 (2014).
39. A. Kolmakov, D. A. Dikin, L. J. Cote, J. Huang, M. K. Abyaneh, M. Amati, L. Gregoratti, S. Günther, M. Kiskinova, Nat. Nanotechn. 6, 651 (2011).
40. A. Knop-Gericke, M. Hävecker, R. Schlögl, private communication.
41. J. Guo, J. Elec. Spectrosc. Rel. Phenom. 188, 71 (2013).
42. J. O'M. Bockris and B. D. Cahan, J. Phys. Chem. 50, 1307 (1969).
43. H. Siegbahn, J. Phys. Chem. B 89, 897 (1985).
44. O. Karslıoğlu, S. Nemsak, I. Zegkinoglou, A. Shavorskiy, M. Hartl, F. Salmassi, E. M. Gullikson, M. L. Ng, Ch. Rameshan, B. Rude, D. Bianculli, A. A. Cordones, S. Axnanda, E. J. Crumlin, P. N. Ross, C. M. Schneider, Z. Hussain, Z. Liu, C. S. Fadley, H. Bluhm, Faraday Discuss. (2015). doi: 10. 1039/C5FD00003C.
45. R. Arrigo, M. Hävecker, M. E. Schuster, C. Ranjan, E. Stotz, A. Knop-Gericke, R. Schlögl, Ang. Chem. Int. Ed. 52, 11660 (2013).
46. H. S. Casalongue, S. Kaya, V. Viswanathan, D. J. Miller, D. Friebel, H. A. Hansen, J. K. Nørskov, A. Nilsson, H. Ogasawara, Nat. Commun. 4, 2817 (2013).
47. D. R. Butcher, M. E. Grass, Z. Zeng, F. Aksoy, H. Bluhm, W.-X. Li, B. S. Mun, G. A. Somorjai, Z. Liu, J. Am. Chem. Soc. 133, 20319 (2011).
48. D. Miller, H. Sanchez Casalongue, H. Bluhm, H. Ogasawara, A. Nilsson, S. Kaya, J. Am. Chem. Soc. 136, 6340 (2014).
49. M. Pourbaix, Atlas of Electrochemical Equilibria in Aqueous Solutions (National Association of Corrosion Engineers, 1974).
50. C. S. Fadley, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 165 (2013).
51. A. X. Gray, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 195, 399 (2014).