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Volumn 33, Issue 6, 2015, Pages

Precise control of defects in graphene using oxygen plasma

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DEFECT DENSITY; DEFECTS; DENSITY FUNCTIONAL THEORY; OXYGEN; REACTIVE ION ETCHING;

EID: 84936862413     PISSN: 07342101     EISSN: 15208559     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.4926378     Document Type: Article
Times cited : (38)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.