Direct imaging of band profile in single layer MoS2 on graphite: Quasiparticle energy gap, metallic edge states, and edge band bending

Nano Letters

Volumn 14, Issue 5, 2014, Pages 2443-2447

  Zhang, Chendong ^a   Johnson, Amber ^a   Hsu, Chang Lung ^b   Li, Lain Jong ^b   Shih, Chih Kang ^a  

^a UNIVERSITY OF TEXAS AT AUSTIN   (United States)

^b INSTITUTE OF ATOMIC AND MOLECULAR SCIENCES   (Taiwan)

Author keywords

band bending; exciton binding energy; metallic edge state; scanning tunneling microscopy spectroscopy; Single layer molybdenum sulfide

Indexed keywords

BINDING ENERGY; CONDUCTION BANDS; ELECTRONIC STRUCTURE; ENERGY GAP; EXCITONS; FERMI LEVEL; FORECASTING; GRAPHITE; HETEROJUNCTIONS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; SOLIDS;

BANDBENDING; EDGE STATE; EXCITON-BINDING ENERGY; MOLYBDENUM SULFIDE; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY/SPECTROSCOPY;

MOLYBDENUM COMPOUNDS;

GRAPHITE; MOLYBDENUM; NANOMATERIAL;

CHEMISTRY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SEMICONDUCTOR; SPECTROSCOPY; SURFACE PROPERTY;

GRAPHITE; MICROSCOPY, SCANNING TUNNELING; MOLYBDENUM; NANOSTRUCTURES; SEMICONDUCTORS; SPECTRUM ANALYSIS; SURFACE PROPERTIES;

EID: 84900485583     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl501133c     Document Type: Article

References (24)

1. Radisavljevic, B.; Radenovic, A.; Brivio, J.; Giacometti, V.; Kis, A. Nat. Nanotechnol. 2011, 6, 147-150
2. Splendiani, A.; Sun, L.; Zhang, Y.; Li, T.; Kim, J.; Chim, C.-Y.; Galli, G.; Wang, F. Nano Lett. 2010, 10, 1271-1275
3. Mak, K. F.; Lee, C.; Hone, J.; Shan, J.; Heinz, T. F. Phys. Rev. Lett. 2010, 105, 136805
4. Wu, S. F.; Ross, J. S.; Liu, G. B.; Aivazian, G.; Jones, A.; Fei, Z. Y.; Zhu, W. G.; Xiao, D.; Yao, W.; Cobden, D.; Xu, X. D. Nat. Phys. 2013, 9, 149-153
5. Xiao, D.; Liu, G.-B.; Feng, W.; Xu, X.; Yao, W. Phys. Rev. Lett. 2012, 108, 196802
6. Jin, W.; Yeh, P.-C.; Zaki, N.; Zhang, D.; Sadowski, J. T.; Al-Mahboob, A.; van der Zande, A. M.; Chenet, D. A.; Dadap, J. I.; Herman, I. P.; Sutter, P.; Hone, J.; Osgood, R. M. Phys. Rev. Lett. 2013, 111, 106801
7. Zhang, Y.; Chang, T.-R.; Zhou, B.; Cui, Y.-T.; Yan, H.; Liu, Z.; Schmitt, F.; Lee, J.; Moore, R.; Chen, Y.; Lin, H.; Jeng, H.-T.; Mo, S.-K.; Hussain, Z.; Bansil, A.; Shen, Z.-X. Nat. Nanotechnol. 2014, 9, 111-115
8. Mak, K. F.; He, K. L.; Lee, C.; Lee, G. H.; Hone, J.; Heinz, T. F.; Shan, J. Nat. Mater. 2013, 12, 207-211
9. Ross, J. S.; Wu, S. F.; Yu, H. Y.; Ghimire, N. J.; Jones, A. M.; Aivazian, G.; Yan, J. Q.; Mandrus, D. G.; Xiao, D.; Yao, W.; Xu, X. D. Nat. Commun. 2013, 4, 1474
10. Cheiwchanchamnangij, T.; Lambrecht, W. R. L. Phys. Rev. B 2012, 85, 205302
11. Ramasubramaniam, A. Phys. Rev. B 2012, 86, 115409
12. Qiu, D. Y.; da Jornada, F. H.; Louie, S. G. Phys. Rev. Lett. 2013, 111, 216805
13. Shi, H. L.; Pan, H.; Zhang, Y. W.; Yakobson, B. I. Phys. Rev. B 2013, 87, 155304
14. Bollinger, M. V.; Lauritsen, J. V.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K.; Helveg, S.; Besenbacher, F. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 196803
15. Bollinger, M. V.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K. Phys. Rev. B 2003, 67, 085410
16. Zhou, W.; Zou, X.; Najmaei, S.; Liu, Z.; Shi, Y.; Kong, J.; Lou, J.; Ajayan, P. M.; Yakobson, B. I.; Idrobo, J.-C. Nano Lett. 2013, 13, 2615-2622
17. van der Zande, A. M.; Huang, P. Y.; Chenet, D. A.; Berkelbach, T. C.; You, Y. M.; Lee, G. H.; Heinz, T. F.; Reichman, D. R.; Muller, D. A.; Hone, J. C. Nat. Mater. 2013, 12, 554-561
18. Liu, G. B.; Shan, W. Y.; Yao, Y. G.; Yao, W.; Xiao, D. Phys. Rev. B 2013, 88, 085433
19. Vojvodic, A.; Hinnemann, B.; Norskov, J. K. Phys. Rev. B 2009, 80, 125416
20. Gutiérrez, H. R.; Perea-López, N.; Elías, A. L.; Berkdemir, A.; Wang, B.; Lv, R.; López-Urías, F.; Crespi, V. H.; Terrones, H.; Terrones, M. Nano Lett. 2013, 13, 3447-3454
21. Lee, Y. H.; Zhang, X. Q.; Zhang, W. J.; Chang, M. T.; Lin, C. T.; Chang, K. D.; Yu, Y. C.; Wang, J. T. W.; Chang, C. S.; Li, L. J.; Lin, T. W. Adv. Mater. 2012, 24, 2320-2325
22. Lauritsen, J. V.; Nyberg, M.; Vang, R. T.; Bollinger, M. V.; Clausen, B. S.; Topsoe, H.; Jacobsen, K. W.; Laegsgaard, E.; Norskov, J. K.; Besenbacher, F. Nanotechnol. 2003, 14, 385-389
23. Lauritsen, J. V.; Bollinger, M. V.; Laegsgaard, E.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K.; Clausen, B. S.; Topsoe, H.; Besenbacher, F. J. Catal. 2004, 221, 510-522
24. Feenstra, R. M.; Stroscio, J. A. J. Vac. Sci. Technol. B 1987, 5, 923-929