Doping and quantum confinement effects in single Si nanocrystals observed by scanning tunneling spectroscopy

Nano Letters

Volumn 13, Issue 6, 2013, Pages 2516-2521

  Wolf, O ^a   Dasog, M ^b   Yang, Z ^b   Balberg, I ^a   Veinot, J G C ^b,c   Millo, O ^a  

^a HEBREW UNIVERSITY OF JERUSALEM   (Israel)

^b UNIVERSITY OF ALBERTA   (Canada)

^c NATIONAL RESEARCH COUNCIL CANADA   (Canada)

Author keywords

photoluminescence; quantum confinement; scanning tunneling spectroscopy; Silicon nanocrystals; surface doping

Indexed keywords

BAND GAP VARIATION; CAPPING LIGANDS; ELECTRONIC LEVELS; QUANTUM CONFINEMENT EFFECTS; SCANNING-TUNNELING-SPECTROSCOPY; SILICON NANOCRYSTALS; SURFACE-DOPING; TUNNELING SPECTRA;

CHARGE TRANSFER; ENERGY GAP; LIGANDS; NANOCRYSTALS; PHOTOLUMINESCENCE; QUANTUM CONFINEMENT; SCANNING; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SPECTROSCOPY;

SILICON;

EID: 84879078122     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl400570p     Document Type: Article

References (34)

1. Cole, J. R.; Mirin, N. A.; Knight, M. W.; Goodrich, G. P.; Halas, N. J. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 12090-12094
2. Malko, A. V.; Mikhailovsky, A. A.; Petruska, M. A.; Hollingsworth, J. A.; Htoon, H.; Bawendi, M. G.; Klimov, V. I. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 1303
3. Medvedev, V.; Kazes, M.; Kan, S.; Banin, U.; Talmon, Y.; Tessler, N. Synth. Met. 2003, 137, 1047-1048
4. Kazes, M.; Lewis, D. Y.; Banin, U. Adv. Funct. Mater. 2004, 14, 957-962
5. Gur, I.; Fromer, N. A.; Geier, M. L.; Alivisatos, A. P. Science (New York, N.Y.) 2005, 310, 462-5
6. Bang, J. H.; Kamat, P. V ACS Nano 2009, 3, 1467-76
7. Li, L.; Daou, T. J.; Texier, I.; Kim Chi, T. T.; Liem, N. Q.; Reiss, P. Chem. Mater. 2009, 21, 2422-2429
8. Schipper, M. L.; Iyer, G.; Koh, A. L.; Cheng, Z.; Ebenstein, Y.; Aharoni, A.; Keren, S.; Bentolila, L. A.; Li, J.; Rao, J.; Chen, X.; Banin, U.; Wu, A. M.; Sinclair, R.; Weiss, S.; Gambhir, S. S. Small 2009, 5, 126-34
9. Soreni-Harari, M.; Yaacobi-Gross, N.; Steiner, D.; Aharoni, A.; Banin, U.; Millo, O.; Tessler, N. Nano Lett. 2008, 8, 678-84
10. Mocatta, D.; Cohen, G.; Schattner, J.; Millo, O.; Rabani, E.; Banin, U. Science 2011, 332, 77-81
11. Wills, A. W.; Kang, M. S.; Wentz, K. M.; Hayes, S. E.; Sahu, A.; Gladfelter, W. L.; Norris, D. J. J. Mater. Chem. 2012, 22, 6335
12. Ding, Z.; Quinn, B. M.; Haram, S. K.; Pell, L. E.; Korgel, B. a; Bard, A. J. Science (New York, N.Y.) 2002, 296, 1293-7
13. Banin, U.; Millo, O. Annu. Rev. Phys. Chem. 2003, 54, 465-92
14. Steiner, D.; Aharoni, A.; Banin, U.; Millo, O. Nano Lett. 2006, 6, 2201-2205
15. Bakkers, E. P. A. M.; Hens, Z.; Zunger, A.; Franceschetti, A.; Kouwenhoven, L. P.; Gurevich, L.; Vanmaekelbergh, D. Nano Lett. 2001, 1, 551-556
16. Liljeroth, P.; Overgaag, K.; Urbieta, A.; Grandidier, B.; Hickey, S.; Vanmaekelbergh, D. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 096803
17. Bakkers, E. P. A. M.; Vanmaekelbergh, D. Phys. Rev. B 2000, 62, R7743-R7746
18. Banin, U.; Cao, Y. W.; Katz, D.; Millo, O. Nature 1999, 400, 542-544
19. Dasog, M.; Yang, Z.; Regli, S.; Atkins, T. M.; Faramus, A.; Singh, M. P.; Muthuswamy, E.; Kauzlarich, S. M.; Tilley, R. D.; Veinot, J. G. C. ACS Nano 2013, 7, 2676-2685
20. Wolkin, M.; Jorne, J.; Fauchet, P.; Allan, G.; Delerue, C. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 197-200
21. Godefroo, S.; Hayne, M.; Jivanescu, M.; Stesmans, A.; Zacharias, M.; Lebedev, O. I.; Van Tendeloo, G.; Moshchalkov, V. V Nat. Nanotechnol. 2008, 3, 174-8
22. Alonso, M. I.; Marcus, I. C.; Garriga, M.; Goñi, A. R.; Jedrzejewski, J.; Balberg, I. Phys. Rev. B 2010, 82, 045302
23. Hessel, C. M.; Henderson, E. J.; Veinot, J. G. C. Chem. Mater. 2006, 18, 6139-6146
24. Yang, Z.; Dobbie, A. R.; Cui, K.; Veinot, J. G. C. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 13958-61
25. Franceschetti, A.; Zunger, A. Phys. Rev. B 2000, 62, 2614-2623
26. Allan, D. C.; Joannopoulos, J. D. In The Physics of Hydrogenated Amorphous Silicon II; Joannopoulos, J. D., Lucovsky, G., Eds.; Springer: New York, 1983; pp (56) 5.
27. Vasudevan, S.; Kapur, N.; He, T.; Neurock, M.; Tour, J. M.; Ghosh, A. W. J. Appl. Phys. 2009, 105, 093703
28. Balberg, I. J. Appl. Phys. 2011, 110, 061301
29. Pavlov, P. V.; Zorin, E. I.; Tetelbaum, D. I.; Khokhlov, A. F. Phys. Status Solidi A 1976, 35, 11-36
30. Temple-Boyer, P.; Jalabert, L.; Couderc, E.; Scheid, E.; Fadel, P.; Rousset, B. Thin Solid Films 2002, 414, 13-17
31. He, T.; Corley, D. A.; Lu, M.; Di Spigna, N. H.; He, J.; Nackashi, D. P.; Franzon, P. D.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 10023-30
32. Zou, J.; Baldwin, R. K.; Pettigrew, K. A.; Kauzlarich, S. M. Nano Lett. 2004, 4, 1181-1186
33. Shiohara, A.; Hanada, S.; Prabakar, S.; Fujioka, K.; Lim, T. H.; Yamamoto, K.; Northcote, P. T.; Tilley, R. D. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 248-53
34. Kůsová, K.; Cibulka, O.; Dohnalová, K.; Pelant, I.; Valenta, J.; Fucíková, A.; Zídek, K.; Lang, J.; Englich, J.; Matejka, P.; Stepánek, P.; Bakardjieva, S. ACS Nano 2010, 4, 4495-504