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Review of Scientific Instruments

Volumn 83, Issue 12, 2012, Pages

Note: Helical nanobelt force sensors

(2) Hwang, G a Hashimoto, H b

a CNRS (France)

b CHUO UNIVERSITY (Japan)

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ATOMIC FORCE MICROSCOPE CANTILEVERS; FABRICATION AND CHARACTERIZATIONS; HELICAL NANOBELT; HIGH RESOLUTION; NANO-ROBOTIC MANIPULATION; PIEZORESISTANCE COEFFICIENTS; PIEZORESISTIVITY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPE;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; NANOROBOTICS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SENSORS;

NANOBELTS;

EID: 84875431768 PISSN: 00346748 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1063/1.4769757 Document Type: Article

Times cited : (2)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.