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Volumn 102, Issue 10, 2013, Pages

Controlled epitaxial integration of polar ZnO(0001) with Si(001)

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CRYSTALLOGRAPHIC CHARACTERISTICS; EPITAXIAL RELATIONSHIPS; SI(0 0 1); SINGLE-CRYSTALLINE THIN FILMS; SURFACE TERMINATION; ZNO; ZNO(0001);

EID: 84875164111     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4795126     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.