Ultrahigh conductivity of large area suspended few layer graphene films

Applied Physics Letters

Volumn 101, Issue 26, 2012, Pages

  Rouhi, Nima ^a   Wang, Yung Yu ^a   Burke, Peter J ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENTS; FEW-LAYER GRAPHENE; GRAPHENE DEVICES; GRAPHENE SHEETS; GROWTH SUBSTRATES; HIGH YIELD; LARGE OPENINGS; MULTIPLE DEVICES; ORDERS OF MAGNITUDE; ROOM TEMPERATURE; WAFER-SCALE;

CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; ELECTRIC CONDUCTIVITY; SILICON NITRIDE;

GRAPHENE;

EID: 84871809849     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4772797     Document Type: Article

References (28)

1. J. Sabio, C. Seoanez, S. Fratini, F. Guinea, A. H. Castro, and F. Sols, Phys. Rev. B 77 (19), 195409 (2008) 10.1103/PhysRevB.77.195409.
2. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, and A. A. Firsov, Nature (London) 438 (7065), 197 (2005). 10.1038/nature04233
3. A. E. Curtin, M. S. Fuhrer, J. L. Tedesco, R. L. Myers-Ward, C. R. Eddy, and D. K. Gaskill, Appl. Phys. Lett. 98 (24), 243111 (2011). 10.1063/1.3595360
4. J. H. Chen, C. Jang, S. D. Xiao, M. Ishigami, and M. S. Fuhrer, Nat. Nanotechnol. 3 (4), 206 (2008). 10.1038/nnano.2008.58
5. J. C. Meyer, A. K. Geim, M. I. Katsnelson, K. S. Novoselov, T. J. Booth, and S. Roth, Nature (London) 446 (7131), 60 (2007). 10.1038/nature05545
6. J. C. Meyer, A. K. Geim, M. I. Katsnelson, K. S. Novoselov, D. Obergfell, S. Roth, C. Girit, and A. Zettl, Solid State Commun. 143 (1-2), 101 (2007). 10.1016/j.ssc.2007.02.047
7. J. C. Meyer, C. O. Girit, M. F. Crommie, and A. Zettl, Appl. Phys. Lett. 92 (12), 123110 (2008). 10.1063/1.2901147
8. B. M. Venkatesan and R. Bashir, Nat. Nanotechnol. 6 (10), 615 (2011). 10.1038/nnano.2011.129
9. J. S. Bunch, A. M. van der Zande, S. S. Verbridge, I. W. Frank, D. M. Tanenbaum, J. M. Parpia, H. G. Craighead, and P. L. McEuen, Science 315 (5811), 490 (2007). 10.1126/science.1136836
10. M. Poot and H. S. J. van der Zant, Appl. Phys. Lett. 92 (6), 63111 (2008). 10.1063/1.2857472
11. J. S. Bunch, S. S. Verbridge, J. S. Alden, A. M. van der Zande, J. M. Parpia, H. G. Craighead, and P. L. McEuen, Nano Lett. 8 (8), 2458 (2008). 10.1021/nl801457b
12. S. P. Koenig, N. G. Boddeti, M. L. Dunn, and J. S. Bunch, Nat. Nanotechnol. 6 (9), 543 (2011). 10.1038/nnano.2011.123
13. S. Shivaraman, R. A. Barton, X. Yu, J. Alden, L. Herman, M. V. S. Chandrashekhar, J. Park, P. L. McEuen, J. M. Parpia, H. G. Craighead, and M. G. Spencer, Nano Lett. 9 (9), 3100 (2009). 10.1021/nl900479g
14. A. A. Balandin, S. Ghosh, W. Z. Bao, I. Calizo, D. Teweldebrhan, F. Miao, and C. N. Lau, Nano Lett. 8 (3), 902 (2008). 10.1021/nl0731872
15. T. J. Booth, P. Blake, R. R. Nair, D. Jiang, E. W. Hill, U. Bangert, A. Bleloch, M. Gass, K. S. Novoselov, M. I. Katsnelson, and A. K. Geim, Nano Lett. 8 (8), 2442 (2008). 10.1021/nl801412y
16. C. Faugeras, B. Faugeras, M. Orlita, M. Potemski, R. R. Nair, and A. K. Geim, ACS Nano 4 (4), 1889 (2010). 10.1021/nn9016229
17. W. W. Cai, A. L. Moore, Y. W. Zhu, X. S. Li, S. S. Chen, L. Shi, and R. S. Ruoff, Nano Lett. 10 (5), 1645 (2010). 10.1021/nl9041966
18. A. M. van der Zande, R. A. Barton, J. S. Alden, C. S. Ruiz-Vargas, W. S. Whitney, P. H. Q. Pham, J. Park, J. M. Parpia, H. G. Craighead, and P. L. McEuen, Nano Lett. 10 (12), 4869 (2010). 10.1021/nl102713c
19. S. S. Chen, A. L. Moore, W. W. Cai, J. W. Suk, J. H. An, C. Mishra, C. Amos, C. W. Magnuson, J. Y. Kang, L. Shi, and R. S. Ruoff, ACS Nano 5 (1), 321 (2011). 10.1021/nn102915x
20. R. A. Barton, B. Ilic, A. M. van der Zande, W. S. Whitney, P. L. McEuen, J. M. Parpia, and H. G. Craighead, Nano Lett. 11 (3), 1232 (2011). 10.1021/nl1042227
21. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, and H. L. Stormer, Solid State Commun. 146 (9-10), 351 (2008). 10.1016/j.ssc.2008.02.024
22. X. Du, I. Skachko, A. Barker, and E. Y. Andrei, Nat. Nanotechnol. 3 (8), 491 (2008). 10.1038/nnano.2008.199
23. N. Tombros, A. Veligura, J. Junesch, M. H. D. Guimaraes, I. J. Vera-Marun, H. T. Jonkman, and B. J. van Wees, Nat. Phys. 7 (9), 697 (2011). 10.1038/nphys2009
24. K. I. Bolotin, K. J. Sikes, J. Hone, H. L. Stormer, and P. Kim, Phys. Rev. Lett. 101 (9), 96802 (2008). 10.1103/PhysRevLett.101.096802
25. W. W. Cai, Y. W. Zhu, X. S. Li, R. D. Piner, and R. S. Ruoff, Appl. Phys. Lett. 95 (12), 123115 (2009). 10.1063/1.3220807
26. A. Reina, X. T. Jia, J. Ho, D. Nezich, H. B. Son, V. Bulovic, M. S. Dresselhaus, and J. Kong, Nano Lett. 9 (1), 30 (2009). 10.1021/nl801827v
27. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J. H. Ahn, P. Kim, J. Y. Choi, and B. H. Hong, Nature (London) 457 (7230), 706 (2009). 10.1038/nature07719
28. X. S. Li, Y. W. Zhu, W. W. Cai, M. Borysiak, B. Y. Han, D. Chen, R. D. Piner, L. Colombo, and R. S. Ruoff, Nano Lett. 9 (12), 4359 (2009). 10.1021/nl902623y