메뉴 건너뛰기




Volumn 112, Issue 10, 2012, Pages

Parametric study of the frequency-domain thermoreflectance technique

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

1-D MODELS; ANISOTROPIC PROPERTY; AXISYMMETRIC; BEAM SPOT SIZE; EFFUSIVITY; FINITE ELEMENT; FREQUENCY DOMAIN APPROACHES; FREQUENCY DOMAINS; HEAT ABSORPTION; INTERFACIAL THERMAL RESISTANCE; LATERAL RESOLUTION; MAXIMUM TEMPERATURE; NON-LINEAR BOUNDARY CONDITIONS; NONLINEAR EFFECT; PARAMETER DETERMINATION; PARAMETRIC STUDY; PROBE LASER; PUMP LASER; PUMP-AND-PROBE; RESEARCH GROUPS; TEMPERATURE RESPONSE; TEMPERATURE-DEPENDENT THERMAL CONDUCTIVITY; THERMOREFLECTANCE; THERMOREFLECTANCE MEASUREMENT; VOLUMETRIC HEATING;

EID: 84870699244     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4761977     Document Type: Article
Times cited : (17)

References (18)
  • 4
    • 0347777405 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1063/1.58071
    • N. Taketoshi, AIP Conf. Proc. 463, 315 (1999). 10.1063/1.58071
    • (1999) AIP Conf. Proc. , vol.463 , pp. 315
    • Taketoshi, N.1
  • 5
    • 28444486937 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1063/1.2130333
    • K. Hatoria, Rev. Sci. Instrum. 76, 114901 (2005) 10.1063/1.2130333
    • (2005) Rev. Sci. Instrum. , vol.76 , pp. 114901
    • Hatoria, K.1
  • 7
    • 84862131824 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1063/1.4716474
    • Z. Hua, J. Appl. Phys. 111, 103505 (2012). 10.1063/1.4716474
    • (2012) J. Appl. Phys. , vol.111 , pp. 103505
    • Hua, Z.1
  • 8
    • 79955709610 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1115/1.4003545
    • J. A. Malen, J. Heat Transfer 133, 081601 (2011). 10.1115/1.4003545
    • (2011) J. Heat Transfer , vol.133 , pp. 081601
    • Malen, J.A.1
  • 9
    • 17444381106 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1007/s10765-005-2365-z
    • R. Kato and I. Hatta, Int. J. Thermophys. 26, 179 (2005). 10.1007/s10765-005-2365-z
    • (2005) Int. J. Thermophys. , vol.26 , pp. 179
    • Kato, R.1    Hatta, I.2
  • 10
    • 78651380993 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1515/HTMP.2010.29.5-6.515
    • H. Shibata, High Temp. Mater. Processes 29, 515 (2010). http://eprints.iisc.ernet.in/35822/1/thermal.2010.pdf 10.1515/HTMP.2010.29.5-6. 515
    • (2010) High Temp. Mater. Processes , vol.29 , pp. 515
    • Shibata, H.1
  • 11
    • 51049117015 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1016/j.tsf.2008.04.037
    • W. F. Bu, Thin Solid Films 516, 8359 (2008). 10.1016/j.tsf.2008.04.037
    • (2008) Thin Solid Films , vol.516 , pp. 8359
    • Bu, W.F.1
  • 13
    • 36449008092 scopus 로고
    • 10.1063/1.360137
    • F. Lepoute, J. Appl. Phys. 78, 2208 (1995). 10.1063/1.360137
    • (1995) J. Appl. Phys. , vol.78 , pp. 2208
    • Lepoute, F.1
  • 14
    • 84855794119 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1016/j.mseb.2011.10.014
    • H. Kyle, Mater. Sci. Eng., B 177, 164 (2012). 10.1016/j.mseb.2011.10.014
    • (2012) Mater. Sci. Eng., B , vol.177 , pp. 164
    • Kyle, H.1
  • 15
    • 20444489602 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1063/1.1819431
    • D. G. Cahill, Rev. Sci. Instrum. 75, 5119 (2004). 10.1063/1.1819431
    • (2004) Rev. Sci. Instrum. , vol.75 , pp. 5119
    • Cahill, D.G.1
  • 17
    • 34247626867 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1016/j.mee.2007.01.178
    • M. Kuwahara, Microelectron. Eng. 84, 1792 (2007). 10.1016/j.mee.2007.01. 178
    • (2007) Microelectron. Eng. , vol.84 , pp. 1792
    • Kuwahara, M.1
  • 18
    • 70349659865 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1063/1.3212673
    • A. J. Schmidt, Rev. Sci. Instrum. 80, 094901 (2009) 10.1063/1.3212673
    • (2009) Rev. Sci. Instrum. , vol.80 , pp. 094901
    • Schmidt, A.J.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.