Diffusion of Ag into organic semiconducting materials: A combined analytical study using transmission electron microscopy and X-ray reflectivity

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 4, Issue 10, 2012, Pages 5608-5612

  Fladischer, Stefanie ^a   Neuhold, Alfred ^a   Kraker, Elke ^b   Haber, Thomas ^a   Lamprecht, Bernhard ^b   Salzmann, Ingo ^c   Resel, Roland ^a   Grogger, Werner ^a  

^a GRAZ UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Austria)

^b JOANNEUM RESEARCH   (Austria)

^c HUMBOLDT UNIVERSITY   (Germany)

Author keywords

Ag diffusion; Alq 3; Bphen; organic metal interface; TEM; XRR

Indexed keywords

AG DIFFUSION; ALQ 3; BPHEN; ORGANIC/METAL INTERFACES; TEM; XRR;

EID: 84867795842     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am301504j     Document Type: Article

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