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Volumn 15, Issue 7-8, 2012, Pages 320-327

Oxide interfaces: Pathways to novel phenomena

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BULK PROPERTIES; COMPLEX OXIDES; HETERO-INTERFACES; INTERFACIAL PHENOMENA; MODEL SYSTEM; OXIDE INTERFACES; RECENT PROGRESS; STATES OF MATTER;

EID: 84865746822     PISSN: 13697021     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1369-7021(12)70137-2     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.