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Volumn 3, Issue 4, 2011, Pages 027-031

Modeling of threshold voltage and drain current of uniaxial strained p-mosfets

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Mobility Strained si; Model; Numerical

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EID: 84865135879     PISSN: 20776772     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (7)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.