-
2
-
-
0034635396
-
-
Dietl, T.; Ohno, H.; Matsukura, F.; Cibert, J.; Ferrand, D. Science 2000, 287, 1019-1022
-
(2000)
Science
, vol.287
, pp. 1019-1022
-
-
Dietl, T.1
Ohno, H.2
Matsukura, F.3
Cibert, J.4
Ferrand, D.5
-
3
-
-
0035793357
-
-
Matsumoto, Y.; Murakami, M.; Shono, T.; Hasegawa, T.; Fukumura, T.; Kawasaki, M.; Ahmet, P.; Chikyow, T.; Koshihara, S.-y.; Koinuma, H. Science 2001, 291, 854-856
-
(2001)
Science
, vol.291
, pp. 854-856
-
-
Matsumoto, Y.1
Murakami, M.2
Shono, T.3
Hasegawa, T.4
Fukumura, T.5
Kawasaki, M.6
Ahmet, P.7
Chikyow, T.8
Koshihara, S.-Y.9
Koinuma, H.10
-
5
-
-
0001652767
-
-
Story, T.; Galazka, R. R.; Frankel, R. B.; Wolff, P. A. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 777-779
-
(1986)
Phys. Rev. Lett.
, vol.56
, pp. 777-779
-
-
Story, T.1
Galazka, R.R.2
Frankel, R.B.3
Wolff, P.A.4
-
6
-
-
32944464040
-
-
Yu, D.; Wehrenberg, B. L.; Yang, I.; Kang, W. W.; Guyot-Sionnest, P. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 072504
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 072504
-
-
Yu, D.1
Wehrenberg, B.L.2
Yang, I.3
Kang, W.W.4
Guyot-Sionnest, P.5
-
7
-
-
84858786940
-
-
Guyot-Sionnest, P.; Yu, D.; Jiang, P. H.; Kang, W. J. Chem. Phys. 2007, 127
-
(2007)
J. Chem. Phys.
, pp. 127
-
-
Guyot-Sionnest, P.1
Yu, D.2
Jiang, P.H.3
Kang, W.4
-
8
-
-
0033894774
-
-
Hoffman, D. M.; Meyer, B. K.; Ekimov, A. I.; Merkulov, I. A.; Efros, A. L.; Rosen, M.; Couino, G.; Gacoin, T.; Boilot, J. P. Solid State Commun. 2000, 114, 547-550
-
(2000)
Solid State Commun.
, vol.114
, pp. 547-550
-
-
Hoffman, D.M.1
Meyer, B.K.2
Ekimov, A.I.3
Merkulov, I.A.4
Efros, A.L.5
Rosen, M.6
Couino, G.7
Gacoin, T.8
Boilot, J.P.9
-
9
-
-
36549104814
-
-
Cerezo, A.; Godfrey, T. J.; Smith, G. D. W. Rev. Sci. Instrum. 1988, 59, 862-866
-
(1988)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.59
, pp. 862-866
-
-
Cerezo, A.1
Godfrey, T.J.2
Smith, G.D.W.3
-
10
-
-
36048945570
-
-
Blavette, D.; Deconihout, B.; Bostel, A.; Sarrau, J. M.; Bouet, M.; Menand, A. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 2911-2919
-
(1993)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.64
, pp. 2911-2919
-
-
Blavette, D.1
Deconihout, B.2
Bostel, A.3
Sarrau, J.M.4
Bouet, M.5
Menand, A.6
-
15
-
-
13144255732
-
-
McDonald, S. A.; Konstantatos, G.; Zhang, S. G.; Cyr, P. W.; Klem, E. J. D.; Levina, L.; Sargent, E. H. Nat. Mater. 2005, 4, 138-U114
-
(2005)
Nat. Mater.
, vol.4
-
-
McDonald, S.A.1
Konstantatos, G.2
Zhang, S.G.3
Cyr, P.W.4
Klem, E.J.D.5
Levina, L.6
Sargent, E.H.7
-
16
-
-
79851497471
-
-
Graham, R.; Miller, C.; Oh, E.; Yu, D. Nano Lett. 2011, 11, 717-722
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 717-722
-
-
Graham, R.1
Miller, C.2
Oh, E.3
Yu, D.4
-
17
-
-
0037699523
-
-
Ji, T. H.; Jian, W. B.; Fang, J. Y. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 8448-8449
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 8448-8449
-
-
Ji, T.H.1
Jian, W.B.2
Fang, J.Y.3
-
18
-
-
33748427911
-
-
Joshi, R. K.; Kumar, P.; Sehgal, H. K.; Kanjilal, A. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, C707-C712
-
(2006)
J. Electrochem. Soc.
, vol.153
-
-
Joshi, R.K.1
Kumar, P.2
Sehgal, H.K.3
Kanjilal, A.4
-
19
-
-
77956324188
-
-
Sun, Y. H.; Lin, T.; Gao, K. H.; Hu, Z. G.; Wu, H. Z.; Yang, P. X.; Dai, N.; Chu, J. H. J. Appl. Phys. 2010, 108, 043709
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 043709
-
-
Sun, Y.H.1
Lin, T.2
Gao, K.H.3
Hu, Z.G.4
Wu, H.Z.5
Yang, P.X.6
Dai, N.7
Chu, J.H.8
-
20
-
-
34547308277
-
-
Silva, R. S.; Morais, P. C.; Qu, F.; Alcalde, A. M.; Dantas, N. O.; Sullasi, H. S. L. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 253114-253113
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.90
, pp. 253114-253113
-
-
Silva, R.S.1
Morais, P.C.2
Qu, F.3
Alcalde, A.M.4
Dantas, N.O.5
Sullasi, H.S.L.6
-
21
-
-
22044453839
-
-
Erwin, S. C.; Zu, L. J.; Haftel, M. I.; Efros, A. L.; Kennedy, T. A.; Norris, D. J. Nature 2005, 436, 91-94
-
(2005)
Nature
, vol.436
, pp. 91-94
-
-
Erwin, S.C.1
Zu, L.J.2
Haftel, M.I.3
Efros, A.L.4
Kennedy, T.A.5
Norris, D.J.6
-
22
-
-
70350395472
-
-
Schlitz, R. A.; Perea, D. E.; Lensch-Falk, J. L.; Hemesath, E. R.; Lauhon, L. J. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 162101
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 162101
-
-
Schlitz, R.A.1
Perea, D.E.2
Lensch-Falk, J.L.3
Hemesath, E.R.4
Lauhon, L.J.5
-
23
-
-
77951083398
-
-
Koren, E.; Berkovitch, N.; Rosenwaks, Y. Nano Lett. 2010, 10, 1163-1167
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 1163-1167
-
-
Koren, E.1
Berkovitch, N.2
Rosenwaks, Y.3
-
24
-
-
69949149832
-
-
Koren, E.; Rosenwaks, Y.; Allen, J. E.; Hemesath, E. R.; Lauhon, L. J. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 092105
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 092105
-
-
Koren, E.1
Rosenwaks, Y.2
Allen, J.E.3
Hemesath, E.R.4
Lauhon, L.J.5
-
25
-
-
0002001181
-
-
Norris, D. J.; Yao, N.; Charnock, F. T.; Kennedy, T. A. Nano Lett. 2001, 1, 3-7
-
(2001)
Nano Lett.
, vol.1
, pp. 3-7
-
-
Norris, D.J.1
Yao, N.2
Charnock, F.T.3
Kennedy, T.A.4
-
26
-
-
33644878950
-
-
Perea, D. E.; Allen, J. E.; May, S. J.; Wessels, B. W.; Seidman, D. N.; Lauhon, L. J. Nano Lett. 2005, 6, 181-185
-
(2005)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 181-185
-
-
Perea, D.E.1
Allen, J.E.2
May, S.J.3
Wessels, B.W.4
Seidman, D.N.5
Lauhon, L.J.6
-
27
-
-
72849122819
-
-
Madras, P.; Dailey, E.; Drucker, J. Nano Lett. 2009, 9, 3826-3830
-
(2009)
Nano Lett.
, vol.9
, pp. 3826-3830
-
-
Madras, P.1
Dailey, E.2
Drucker, J.3
-
35
-
-
34948866856
-
-
Bierman, M. J.; Lau, Y. K. A.; Jin, S. Nano Lett. 2007, 7, 2907-2912
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 2907-2912
-
-
Bierman, M.J.1
Lau, Y.K.A.2
Jin, S.3
-
36
-
-
34248185941
-
-
Zhu, J.; Peng, H.; Chan, C. K.; Jarausch, K.; Zhang, X. F.; Cui, Y. Nano Lett. 2007, 7, 1095-1099
-
(2007)
Nano Lett.
, vol.7
, pp. 1095-1099
-
-
Zhu, J.1
Peng, H.2
Chan, C.K.3
Jarausch, K.4
Zhang, X.F.5
Cui, Y.6
-
37
-
-
13444273231
-
-
Miller, M. K.; Russell, K. F.; Thompson, G. B. Ultramicroscopy 2005, 102, 287-298
-
(2005)
Ultramicroscopy
, vol.102
, pp. 287-298
-
-
Miller, M.K.1
Russell, K.F.2
Thompson, G.B.3
-
38
-
-
33845659565
-
-
Thompson, K.; Lawrence, D.; Larson, D. J.; Olson, J. D.; Kelly, T. F.; Gorman, B. Ultramicroscopy 2007, 107, 131-139
-
(2007)
Ultramicroscopy
, vol.107
, pp. 131-139
-
-
Thompson, K.1
Lawrence, D.2
Larson, D.J.3
Olson, J.D.4
Kelly, T.F.5
Gorman, B.6
-
39
-
-
77955468066
-
-
Lensch-Falk, J. L.; Sugar, J. D.; Hekmaty, M. A.; Medlin, D. L. J. Alloys Compd. 2010, 504, 37-44
-
(2010)
J. Alloys Compd.
, vol.504
, pp. 37-44
-
-
Lensch-Falk, J.L.1
Sugar, J.D.2
Hekmaty, M.A.3
Medlin, D.L.4
-
40
-
-
77955552111
-
-
Gault, B.; Marquis, E. A.; Saxey, D. W.; Hughes, G. M.; Mangelinck, D.; Toberer, E. S.; Snyder, G. J. Scr. Mater 2010, 63, 784-787
-
(2010)
Scr. Mater
, vol.63
, pp. 784-787
-
-
Gault, B.1
Marquis, E.A.2
Saxey, D.W.3
Hughes, G.M.4
Mangelinck, D.5
Toberer, E.S.6
Snyder, G.J.7
-
41
-
-
84858784762
-
-
Marquis, E. A.; Geiser, B. P.; Hekmaty, M.; Larson, D. J. Microsc. Microanal. 2007, 13, 196-197
-
(2007)
Microsc. Microanal.
, vol.13
, pp. 196-197
-
-
Marquis, E.A.1
Geiser, B.P.2
Hekmaty, M.3
Larson, D.J.4
-
42
-
-
22644435105
-
-
Bohlke, J. K.; de Laeter, J. R.; De Bievre, P.; Hidaka, H.; Peiser, H. S.; Rosman, K. J. R.; Taylor, P. D. P. J. Phys. Chem. Ref. Data 2005, 34, 57-67
-
(2005)
J. Phys. Chem. Ref. Data
, vol.34
, pp. 57-67
-
-
Bohlke, J.K.1
De Laeter, J.R.2
De Bievre, P.3
Hidaka, H.4
Peiser, H.S.5
Rosman, K.J.R.6
Taylor, P.D.P.7
|