-
2
-
-
34948854470
-
-
Black, C. T.; Ruiz, R.; Breyta, G.; Cheng, J. Y.; Colburn, M. C.; Guarini, K. W.; Kim, H.-C.; Zhang, Y. IBM J. Res. Dev. 2007, 51 (5) 605-633
-
(2007)
IBM J. Res. Dev.
, vol.51
, Issue.5
, pp. 605-633
-
-
Black, C.T.1
Ruiz, R.2
Breyta, G.3
Cheng, J.Y.4
Colburn, M.C.5
Guarini, K.W.6
Kim, H.-C.7
Zhang, Y.8
-
3
-
-
49649099742
-
-
Ruiz, R.; Kang, H.; Detcheverry, F. A.; Dobisz, E.; Kercher, D. S.; Albrecht, T. R.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Science 2008, 321 (5891) 936-939
-
(2008)
Science
, vol.321
, Issue.5891
, pp. 936-939
-
-
Ruiz, R.1
Kang, H.2
Detcheverry, F.A.3
Dobisz, E.4
Kercher, D.S.5
Albrecht, T.R.6
De Pablo, J.J.7
Nealey, P.F.8
-
4
-
-
68649126112
-
-
Yang, X. M.; Wan, L.; Xiao, S. G.; Xu, Y. A.; Weller, D. K. ACS Nano 2009, 3 (7) 1844-1858
-
(2009)
ACS Nano
, vol.3
, Issue.7
, pp. 1844-1858
-
-
Yang, X.M.1
Wan, L.2
Xiao, S.G.3
Xu, Y.A.4
Weller, D.K.5
-
5
-
-
82955192358
-
-
ITRS International Technology Roadmap for Semiconductors. 2010 Edition. Lithography
-
ITRS International Technology Roadmap for Semiconductors. 2010 Edition. Lithography. http://www.itrs.net/Links/2010ITRS/Home2010.htm
-
-
-
-
6
-
-
76449101109
-
-
Hellwig, O.; Bosworth, J. K.; Dobisz, E.; Kercher, D.; Hauet, T.; Zeltzer, G.; Risner-Jamtgaard, J. D.; Yaney, D.; Ruiz, R. Appl. Phys. Lett. 2010, 96 (5) 052511
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, Issue.5
, pp. 052511
-
-
Hellwig, O.1
Bosworth, J.K.2
Dobisz, E.3
Kercher, D.4
Hauet, T.5
Zeltzer, G.6
Risner-Jamtgaard, J.D.7
Yaney, D.8
Ruiz, R.9
-
7
-
-
77954427296
-
-
Stipe, B. C.; Strand, T. C.; Poon, C. C.; Balamane, H.; Boone, T. D.; Katine, J. A.; Li, J.-L.; Rawat, V.; Nemoto, H.; Hirotsune, A.; Hellwig, O.; Ruiz, R.; Dobisz, E.; Kercher, D. S.; Robertson, N.; Albrecht, T. R.; Terris, B. D. Nat. Photon 2010, 4 (7) 484-488
-
(2010)
Nat. Photon
, vol.4
, Issue.7
, pp. 484-488
-
-
Stipe, B.C.1
Strand, T.C.2
Poon, C.C.3
Balamane, H.4
Boone, T.D.5
Katine, J.A.6
Li, J.-L.7
Rawat, V.8
Nemoto, H.9
Hirotsune, A.10
Hellwig, O.11
Ruiz, R.12
Dobisz, E.13
Kercher, D.S.14
Robertson, N.15
Albrecht, T.R.16
Terris, B.D.17
-
8
-
-
84892350789
-
Bit Patterned Magnetic Recording
-
In, 1 st ed. Liu, J. P. Fullerton, E. E. Gutfleisch, O. Sellmyer, D. Springer Verlag: Berlin
-
Albrecht, T.; Hellwig, O.; Ruiz, R.; Schabes, M.; Terris, B. D.; Wu, X. Z. Bit Patterned Magnetic Recording. In Nanoscale Magnetic Materials and Applications, 1 st ed.; Liu, J. P.; Fullerton, E. E.; Gutfleisch, O.; Sellmyer, D., Eds.; Springer Verlag: Berlin, 2009.
-
(2009)
Nanoscale Magnetic Materials and Applications
-
-
Albrecht, T.1
Hellwig, O.2
Ruiz, R.3
Schabes, M.4
Terris, B.D.5
Wu, X.Z.6
-
9
-
-
78650104650
-
-
Cheng, J. Y.; Sanders, D. P.; Truong, H. D.; Harrer, S.; Friz, A.; Holmes, S.; Colburn, M.; Hinsberg, W. D. ACS Nano 2010, 4 (8) 4815-4823
-
(2010)
ACS Nano
, vol.4
, Issue.8
, pp. 4815-4823
-
-
Cheng, J.Y.1
Sanders, D.P.2
Truong, H.D.3
Harrer, S.4
Friz, A.5
Holmes, S.6
Colburn, M.7
Hinsberg, W.D.8
-
10
-
-
84905954505
-
-
Liu, C. C.; Nealey, P. F.; Raub, A. K.; Hakeem, P. J.; Brueck, S. R. J.; Han, E.; Gopalan, P. J. Vac. Sci. Technol. B 2010, 28 (6) C6B30-C6B34
-
(2010)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.28
, Issue.6
-
-
Liu, C.C.1
Nealey, P.F.2
Raub, A.K.3
Hakeem, P.J.4
Brueck, S.R.J.5
Han, E.6
Gopalan, P.7
-
11
-
-
0037120344
-
-
Guarini, K. W.; Black, C. T.; Yeuing, S. H. I. Adv. Mater. 2002, 14 (18) 1290
-
(2002)
Adv. Mater.
, vol.14
, Issue.18
, pp. 1290
-
-
Guarini, K.W.1
Black, C.T.2
Yeuing, S.H.I.3
-
12
-
-
0345097635
-
-
Hammond, M. R.; Sides, S. W.; Fredrickson, G. H.; Kramer, E. J.; Ruokolainen, J.; Hahn, S. F. Macromolecules 2003, 36 (23) 8712-8716
-
(2003)
Macromolecules
, vol.36
, Issue.23
, pp. 8712-8716
-
-
Hammond, M.R.1
Sides, S.W.2
Fredrickson, G.H.3
Kramer, E.J.4
Ruokolainen, J.5
Hahn, S.F.6
-
14
-
-
57249103619
-
-
Welander, A. M.; Nealey, P. F.; Cao, H.; Bristol, R. J. Vac. Sci. Technol. B 2008, 26 (6) 2484-2488
-
(2008)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.26
, Issue.6
, pp. 2484-2488
-
-
Welander, A.M.1
Nealey, P.F.2
Cao, H.3
Bristol, R.4
-
15
-
-
67651085194
-
-
Stuen, K. O.; Thomas, C. S.; Liu, G. L.; Ferrier, N.; Nealey, P. F. Macromolecules 2009, 42 (14) 5139-5145
-
(2009)
Macromolecules
, vol.42
, Issue.14
, pp. 5139-5145
-
-
Stuen, K.O.1
Thomas, C.S.2
Liu, G.L.3
Ferrier, N.4
Nealey, P.F.5
-
16
-
-
79958779745
-
-
Ji, S. X.; Liu, C. C.; Liao, W.; Fenske, A. L.; Craig, G. S. W.; Nealey, P. F. Macromolecules 2011, 44 (11) 4291-4300
-
(2011)
Macromolecules
, vol.44
, Issue.11
, pp. 4291-4300
-
-
Ji, S.X.1
Liu, C.C.2
Liao, W.3
Fenske, A.L.4
Craig, G.S.W.5
Nealey, P.F.6
-
18
-
-
33846411398
-
-
Edwards, E. W.; Muller, M.; Stoykovich, M. P.; Solak, H. H.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Macromolecules 2007, 40 (1) 90-96
-
(2007)
Macromolecules
, vol.40
, Issue.1
, pp. 90-96
-
-
Edwards, E.W.1
Muller, M.2
Stoykovich, M.P.3
Solak, H.H.4
De Pablo, J.J.5
Nealey, P.F.6
-
19
-
-
78650115019
-
-
Liu, G. L.; Delcambre, S. P.; Stuen, K. O.; Craig, G. S. W.; De Pablo, J. J.; Nealey, P. F.; Nygard, K.; Satapathy, D. K.; Bunk, O.; Solak, H. H. J. Vac. Sci. Technol. B 2010, 28 (6) C6B13-C6B19
-
(2010)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.28
, Issue.6
-
-
Liu, G.L.1
Delcambre, S.P.2
Stuen, K.O.3
Craig, G.S.W.4
De Pablo, J.J.5
Nealey, P.F.6
Nygard, K.7
Satapathy, D.K.8
Bunk, O.9
Solak, H.H.10
-
20
-
-
79961051491
-
-
Nagpal, U.; Kang, H.; Craig, G. S. W.; Nealey, P. F.; de Pablo, J. J. ACS Nano 2011, 5 (7) 5673-5682
-
(2011)
ACS Nano
, vol.5
, Issue.7
, pp. 5673-5682
-
-
Nagpal, U.1
Kang, H.2
Craig, G.S.W.3
Nealey, P.F.4
De Pablo, J.J.5
-
21
-
-
77951616272
-
-
Detcheverry, F. A.; Liu, G. L.; Nealey, P. F.; de Pablo, J. J. Macromolecules 2010, 43 (7) 3446-3454
-
(2010)
Macromolecules
, vol.43
, Issue.7
, pp. 3446-3454
-
-
Detcheverry, F.A.1
Liu, G.L.2
Nealey, P.F.3
De Pablo, J.J.4
-
22
-
-
67949112910
-
-
Tada, Y.; Akasaka, S.; Takenaka, M.; Yoshida, H.; Ruiz, R.; Dobisz, E.; Hasegawa, H. Polymer 2009, 50 (17) 4250-4256
-
(2009)
Polymer
, vol.50
, Issue.17
, pp. 4250-4256
-
-
Tada, Y.1
Akasaka, S.2
Takenaka, M.3
Yoshida, H.4
Ruiz, R.5
Dobisz, E.6
Hasegawa, H.7
-
23
-
-
52649100977
-
-
Cheng, J. Y.; Rettner, C. T.; Sanders, D. P.; Kim, H.-C.; Hinsberg, W. D. Adv. Mater. 2008, 20 (16) 3155-3158
-
(2008)
Adv. Mater.
, vol.20
, Issue.16
, pp. 3155-3158
-
-
Cheng, J.Y.1
Rettner, C.T.2
Sanders, D.P.3
Kim, H.-C.4
Hinsberg, W.D.5
-
24
-
-
77649203553
-
-
Stoykovich, M. P.; Daoulas, K. C.; Muller, M.; Kang, H. M.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Macromolecules 2010, 43 (5) 2334-2342
-
(2010)
Macromolecules
, vol.43
, Issue.5
, pp. 2334-2342
-
-
Stoykovich, M.P.1
Daoulas, K.C.2
Muller, M.3
Kang, H.M.4
De Pablo, J.J.5
Nealey, P.F.6
-
25
-
-
0038362704
-
-
Segalman, R. A.; Hexemer, A.; Hayward, R. C.; Kramer, E. J. Macromolecules 2003, 36 (9) 3272-3288
-
(2003)
Macromolecules
, vol.36
, Issue.9
, pp. 3272-3288
-
-
Segalman, R.A.1
Hexemer, A.2
Hayward, R.C.3
Kramer, E.J.4
-
26
-
-
4444331724
-
-
Harrison, C.; Anglescu, D. E.; Trawick, M. L.; Cheng, Z.; Huse, D. A.; Chaikin, P. M.; Vega, D. A.; Sebastian, J. M.; Register, R. A.; Adamson, D. H. Europhys. Lett. 2004, 67, 800-806
-
(2004)
Europhys. Lett.
, vol.67
, pp. 800-806
-
-
Harrison, C.1
Anglescu, D.E.2
Trawick, M.L.3
Cheng, Z.4
Huse, D.A.5
Chaikin, P.M.6
Vega, D.A.7
Sebastian, J.M.8
Register, R.A.9
Adamson, D.H.10
-
28
-
-
4444331724
-
-
Harrison, C.; Angelescu, D. E.; Trawick, M.; Cheng, Z. D.; Huse, D. A.; Chaikin, P. M.; Vega, D. A.; Sebastian, J. M.; Register, R. A.; Adamson, D. H. Europhys. Lett. 2004, 67 (5) 800-806
-
(2004)
Europhys. Lett.
, vol.67
, Issue.5
, pp. 800-806
-
-
Harrison, C.1
Angelescu, D.E.2
Trawick, M.3
Cheng, Z.D.4
Huse, D.A.5
Chaikin, P.M.6
Vega, D.A.7
Sebastian, J.M.8
Register, R.A.9
Adamson, D.H.10
-
29
-
-
33749829783
-
-
Harrison, C.; Cheng, Z.; Sethuraman, S.; Huse, D. A.; Chaikin, P. M.; Vega, D. A.; Sebastian, J. M.; Register, R. A.; Adamson, D. H. Phys. Rev. E 2002, 66 (1) 011706
-
(2002)
Phys. Rev. e
, vol.66
, Issue.1
, pp. 011706
-
-
Harrison, C.1
Cheng, Z.2
Sethuraman, S.3
Huse, D.A.4
Chaikin, P.M.5
Vega, D.A.6
Sebastian, J.M.7
Register, R.A.8
Adamson, D.H.9
-
30
-
-
40749118095
-
-
Ruiz, R.; Bosworth, J. K.; Black, C. T. Phys. Rev. B 2008, 77 (5) 054204
-
(2008)
Phys. Rev. B
, vol.77
, Issue.5
, pp. 054204
-
-
Ruiz, R.1
Bosworth, J.K.2
Black, C.T.3
-
31
-
-
0347477221
-
-
Segalman, R. A.; Hexemer, A.; Kramer, E. J. Phys. Rev. Lett. 2003, 91 (19) 196101
-
(2003)
Phys. Rev. Lett.
, vol.91
, Issue.19
, pp. 196101
-
-
Segalman, R.A.1
Hexemer, A.2
Kramer, E.J.3
-
32
-
-
43649100890
-
-
Welander, A. M.; Kang, H. M.; Stuen, K. O.; Solak, H. H.; Muller, M.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Macromolecules 2008, 41 (8) 2759-2761
-
(2008)
Macromolecules
, vol.41
, Issue.8
, pp. 2759-2761
-
-
Welander, A.M.1
Kang, H.M.2
Stuen, K.O.3
Solak, H.H.4
Muller, M.5
De Pablo, J.J.6
Nealey, P.F.7
|