-
3
-
-
18044398972
-
-
Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kreibel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103-1169
-
(2005)
Chem. Rev.
, vol.105
, pp. 1103-1169
-
-
Love, J.C.1
Estroff, L.A.2
Kreibel, J.K.3
Nuzzo, R.G.4
Whitesides, G.M.5
-
4
-
-
0032648486
-
-
Valiokas, R.; Svedhem, S.; Svensson, S. C. T.; Liedberg, B. Langmuir 1999, 15, 3390-3394
-
(1999)
Langmuir
, vol.15
, pp. 3390-3394
-
-
Valiokas, R.1
Svedhem, S.2
Svensson, S.C.T.3
Liedberg, B.4
-
5
-
-
73849088701
-
-
Prompinit, P.; Achalkumar, A. S.; Han, X. J.; Bushby, R. J.; Wälti, C.; Evans, S. D. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 21642-21647
-
(2009)
J. Phys. Chem. C
, vol.113
, pp. 21642-21647
-
-
Prompinit, P.1
Achalkumar, A.S.2
Han, X.J.3
Bushby, R.J.4
Wälti, C.5
Evans, S.D.6
-
6
-
-
65549138881
-
-
Johnson, S.; Evans, D.; Davies, A. G.; Linfield, E. H.; Wälti, C. Nanotechnology 2009, 20, 155304
-
(2009)
Nanotechnology
, vol.20
, pp. 155304
-
-
Johnson, S.1
Evans, D.2
Davies, A.G.3
Linfield, E.H.4
Wälti, C.5
-
7
-
-
0033614026
-
-
Piner, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S. H.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661-663
-
(1999)
Science
, vol.283
, pp. 661-663
-
-
Piner, R.D.1
Zhu, J.2
Xu, F.3
Hong, S.H.4
Mirkin, C.A.5
-
8
-
-
76649125924
-
-
Saavedra, H. M.; Mullen, T. J.; Zhang, P.; Dewey, D. C.; Claridge, S. A.; Weiss, P. S. Rep. Prog. Phys. 2010, 73, 036501
-
(2010)
Rep. Prog. Phys.
, vol.73
, pp. 036501
-
-
Saavedra, H.M.1
Mullen, T.J.2
Zhang, P.3
Dewey, D.C.4
Claridge, S.A.5
Weiss, P.S.6
-
9
-
-
0037452807
-
-
Wälti, C.; Wirtz, R.; Germishuizen, W. A.; Bailey, D. M. D.; Pepper, M.; Middelberg, A. P. J.; Davies, A. G. Langmuir 2003, 19, 981-984
-
(2003)
Langmuir
, vol.19
, pp. 981-984
-
-
Wälti, C.1
Wirtz, R.2
Germishuizen, W.A.3
Bailey, D.M.D.4
Pepper, M.5
Middelberg, A.P.J.6
Davies, A.G.7
-
10
-
-
38849093973
-
-
Evans, D.; Johnson, S.; Laurenson, S.; Davies, A. G.; Ko Ferrigno, P.; Wälti, C. J. Biol. 2008, 7 (1) 3
-
(2008)
J. Biol.
, vol.7
, Issue.1
, pp. 3
-
-
Evans, D.1
Johnson, S.2
Laurenson, S.3
Davies, A.G.4
Ko Ferrigno, P.5
Wälti, C.6
-
13
-
-
0001165321
-
-
Lee, H.; Kepley, L. J.; Hong, H. G.; Mallouk, T. E. J. Am. Chem. Soc. 1988, 110, 618-620
-
(1988)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.110
, pp. 618-620
-
-
Lee, H.1
Kepley, L.J.2
Hong, H.G.3
Mallouk, T.E.4
-
14
-
-
11944272989
-
-
Cao, G.; Hong, H. G.; Mallouk, T. E. Acc. Chem. Res. 1992, 25, 420-427
-
(1992)
Acc. Chem. Res.
, vol.25
, pp. 420-427
-
-
Cao, G.1
Hong, H.G.2
Mallouk, T.E.3
-
15
-
-
0026817694
-
-
Kepley, L. J.; Sacket, D. D.; Bell, C. M.; Mallouk, T. E. Thin Solid Films 1992, 208, 132-136
-
(1992)
Thin Solid Films
, vol.208
, pp. 132-136
-
-
Kepley, L.J.1
Sacket, D.D.2
Bell, C.M.3
Mallouk, T.E.4
-
16
-
-
0000995848
-
-
Bent, S. F.; Schilling, M. L.; Wilson, W. L.; Katz, H. E.; Harris, A. L. Chem. Mater. 1994, 6, 122-126
-
(1994)
Chem. Mater.
, vol.6
, pp. 122-126
-
-
Bent, S.F.1
Schilling, M.L.2
Wilson, W.L.3
Katz, H.E.4
Harris, A.L.5
-
17
-
-
0004941035
-
-
Evans, S. D.; Ulman, A.; Goppertberarducci, K. E.; Gerenser, L. J. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 5866-5868
-
(1991)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.113
, pp. 5866-5868
-
-
Evans, S.D.1
Ulman, A.2
Goppertberarducci, K.E.3
Gerenser, L.J.4
-
18
-
-
43949161039
-
-
Freeman, T.; Evans, S.; Ulman, A. Thin Solid Films 1994, 244, 784-78
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.244
, pp. 784-78
-
-
Freeman, T.1
Evans, S.2
Ulman, A.3
-
20
-
-
0036883154
-
-
Anderson, M. E.; Smith, R. K.; Donhauser, Z. J.; Hatzor, A.; Lewis, P. A.; Tan, L. P.; Tanaka, H.; Horn, M. W.; Weiss, P. S. J. Vac. Sci. Technol. B 2002, 20, 2739-2744
-
(2002)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.20
, pp. 2739-2744
-
-
Anderson, M.E.1
Smith, R.K.2
Donhauser, Z.J.3
Hatzor, A.4
Lewis, P.A.5
Tan, L.P.6
Tanaka, H.7
Horn, M.W.8
Weiss, P.S.9
-
21
-
-
0942289201
-
-
Anderson, M. E.; Tan, L. P.; Tanaka, H.; Mihok, M.; Lee, H.; Horn, M. W.; Weiss, P. S. J. Vac. Sci. Technol. B 2003, 21, 3116-3119
-
(2003)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.21
, pp. 3116-3119
-
-
Anderson, M.E.1
Tan, L.P.2
Tanaka, H.3
Mihok, M.4
Lee, H.5
Horn, M.W.6
Weiss, P.S.7
-
22
-
-
33744822448
-
-
Negishi, R.; Hasegawa, T.; Terabe, K.; Aono, M.; Ebihara, T.; Tanaka, H.; Ogawa, T. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 223111-223113
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 223111-223113
-
-
Negishi, R.1
Hasegawa, T.2
Terabe, K.3
Aono, M.4
Ebihara, T.5
Tanaka, H.6
Ogawa, T.7
-
23
-
-
0031250389
-
-
Brust, M.; Blass, P. M.; Bard, A. J. Langmuir 1997, 13, 5602-560
-
(1997)
Langmuir
, vol.13
, pp. 5602-560
-
-
Brust, M.1
Blass, P.M.2
Bard, A.J.3
-
24
-
-
33846885688
-
-
Daniel, T. A.; Uppili, S.; Mccarty, G.; Allara, D. L. Langmuir 2007, 23, 638-648
-
(2007)
Langmuir
, vol.23
, pp. 638-648
-
-
Daniel, T.A.1
Uppili, S.2
McCarty, G.3
Allara, D.L.4
-
25
-
-
0000879957
-
-
P. Wagner, P.; Hegner, M.; Guntherodt, H.-J.; Semenza, G. Langmuir 1995, 11, 3867-3875
-
(1995)
Langmuir
, vol.11
, pp. 3867-3875
-
-
Wagner P, P.1
Hegner, M.2
Guntherodt, H.-J.3
Semenza, G.4
-
26
-
-
1942481178
-
-
Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321-335
-
(1989)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.111
, pp. 321-335
-
-
Bain, C.D.1
Troughton, E.B.2
Tao, Y.-T.3
Evall, J.4
Whitesides, G.M.5
Nuzzo, R.G.6
|